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专利号: 2011101377548
申请人: 江南大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2023-10-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种大规模集成电路测试人力成本管理方法,此方法的实现步骤为:

1)运行各个回归测试,收集功能覆盖率,将其建模为时间t的幂函数: (i=1,

2,…,N),其中系数ci,xi分别是正实数与实数,自然数N代表回归测试的数目;

2)运行各个回归测试,收集磁盘用量信息,将其建模为时间t的幂函数: (i=

1,2,…,N),其中系数si,yi分别是正实数与实数,自然数N代表回归测试的数目;

3)RTL代码进行少量改动时,由设计人员提供一组加权参数βi(i=1,2,…,N),取作

0≤βi≤1,表示模块与本次RTL代码改动的相关程度;

4)管理者给出可用的总计算时间上限T及总磁盘用量上限S;

5)用凸优化软件包求解几何规划问题:

s.t. (i=1,2,…,N)

t1+t2+…+tN≤T

* *

得到最大的功能覆盖率γ 和每个测试的最优运行时间 给出了最优解γ 关于各个* *约束的灵敏度,对于N个覆盖率约束βiγ(i=1,2,…,N),最优解γ 关于约束βiγ(i=1,2,…,N)的灵敏度记为 (i=1,2,…,N);

6)当βiγ*≥ξi(i=1,2,…,N),整体的最大功能覆盖率将从γ*变大到其中 为常数且ρ>0,将每项测试的人力成本建模为 其中εi,δi分别为正实数和实数,由测试人员向管理者给出εi,δi的参考值,管理者根据提供的参考值和实际情况最终决定εi,δi取值,总的人力成本上限C由管理者决定,最优人力资源管理问题表述为以下几何规划:*

s.t.ζi≤βiγ(i=1,2,…,N)*

7)根据第6步求得的每项测试需改进的量化指标的最优解ξi,管理者将测试任务分配给测试人员,测试人员进行测试改进,其结果是使ci,xi变大,变大为 其中为大于1的实数,测试改进程度 是否满足要求,由下式判断只要成立了,说明测试改进满足要求,就可以停止了,且此次测试改进的参数作为下一次进行人力资源管理,第1步表达式 (i=1,2,…,N)系数ci,xi的更新值。