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专利号: 2011102456388
申请人: 江苏理工学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种谐波分析方法,其特征在于包括:应用准同步DFT进行谐波分析时频域抽样的位置根据信号频率的漂移而改变,即所述频域抽样位置为μ2π/N,其中:μ为信号频率的漂移,无漂移时μ为1。

2.一种谐波分析方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)、等间隔采样W+2个采样点数据:{f(i),i=0,1,...,w+1};

(2)、从采样点i=0开始应用准同步DFT公式:分析W+1个数据获得基波信息 和

(3)、从采样点i=1应用准同步DFT公式:

分析W+1个数据获得基波信息 和

(4)、应用公式:

计算信号的频率漂移μ;

(5)应用公式:

计算各次谐波的幅值和相角。

3.根据权利要求2所述的谐波分析方法,其特征在于:所述的等间隔采样是根据进行谐波分析的理想信号的周期T和频率f,在一个周期内采样N点,即采样频率为fs=Nf,且N≥64。

4.根据权利要求2或3所述的谐波分析方法,其特征在于:所述的采样W+2个采样点数据是根据所选择的积分方法而作相应选择,若采用复化梯形积分方法,则W=nN;若采用复化矩形积分方法,则W=n(N-1);若采用复化辛普森积分方法,则W=n(N-1)/2;然后根据采样频率fs=Nf,获得采样点数据序列{f(i),i=0,1,…,w+1},n=≥3,最后对该数据序列进行谐波分析。

5.根据权利要求2所述的谐波分析方法,其特征在于: 为所有加权系数之和。

6.根据权利要求2所述的谐波分析方法,其特征在于:ak和bk为k次谐波的虚部和实部,根据ak和bk就可以获得谐波幅值和初相角。

7.根据权利要求2所述的谐波分析方法,其特征在于:信号频率的漂移μ是根据相邻采样点基波相角差与理想周期内采样点数N的固定关系而获得的,信号频率的漂移μ也可用于修正基波和高次谐波的频率f1和高次谐波的频率fk。