1.一种原子基态超精细塞曼频率的测量装置，其特征在于，所述装置包括：光辐射模块，用于使原子产生辐射光，所述辐射光的谱线包括两个超精细结构成分；

过滤模块，用于采用所述原子的同位素滤除所述两个超精细结构成分中的一个，得到过滤后的辐射光；

分裂跃迁模块，用于在所述过滤后的辐射光的照射下，通过磁场和射频信号的作用，使微波腔中的原子发生分裂并产生共振跃迁，所述微波腔中的原子与所述光辐射模块中的原子为同一种原子；

光检模块，用于实时检测透过所述分裂跃迁模块的辐射光的强度，并产生光强信号；

主控计算模块，用于为所述微波腔提供所述射频信号，根据所述射频信号与所述光强信号的对应关系，得到所述原子的吸收谱线，并根据所述吸收谱线计算所述原子的基态超精细塞曼频率。

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2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光辐射模块为 Rb光谱灯；所述过滤

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模块为 Rb滤光泡；所述分裂跃迁模块包括所述微波腔和放置在所述微波腔内的 Rb吸收泡；所述微波腔外绕制产生所述磁场的通电线圈。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主控计算模块具体包括：射频信号产生单元，用于输出并记录所述射频信号；

电流产生单元，用于产生电流以控制所述磁场的大小；

采样单元，用于根据输出所述射频信号的时序对所述光强信号进行采样并记录，使所述光强信号与所述射频信号一一对应；

计算单元，用于根据所述光强信号与所述射频信号的对应关系，得到所述原子对应的吸收谱线，并根据所述吸收谱线计算并显示计算出的所述的原子基态超精细塞曼频率。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述射频信号产生单元为扫频仪。

5.一种原子基态超精细塞曼频率的测量方法，其特征在于，所述方法包括：使原子产生辐射光，所述辐射光的谱线包括两个超精细结构成分；

采用所述原子的同位素滤除所述两个超精细结构成分中的一个，得到过滤后的辐射光；

在所述过滤后的辐射光的照射下，通过磁场和射频信号的作用，使微波腔中原子发生分裂并产生共振跃迁，所述微波腔中的原子与产生辐射光的原子为同一种原子；

实时检测透过所述微波腔的辐射光的强度，并产生光强信号；

根据所述射频信号与所述光强信号的对应关系，得到所述原子的吸收谱线，并根据所述吸收谱线计算所述原子的基态超精细塞曼频率。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述吸收谱线计算所述原子的基态超精细塞曼频率，包括：在所述吸收谱线中，分别获取最小的光强信号对应的所述射频信号的频率值、以及次小的光强信号对应的所述射频信号的频率值；

计算最小的光强信号对应的射频信号的频率值与次小的光强信号对应的射频信号的频率值之间的差值，得到所述原子的基态超精细塞曼频率。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述射频信号的变化范围为

6832.6875MHz～6836.6875MHz，步长为500Hz。

8.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述磁场的大小在100mG以内。