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专利号: 2012105776715
申请人: 常州大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 晶体生长〔3〕
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种超薄单晶硅片的直拉制备方法,其特征在于包括如下步骤:(1)把原料多晶硅块放入单晶炉的石英坩埚中;

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(2)单晶炉关闭,抽真空到10 -10 Torr,然后冲入高纯氩,单晶炉内真空度保持在

10~20 Torr;

(3)在单晶炉中,加热融化石英坩埚中的多晶硅原料,单晶炉中加热温度为

1412-1450℃;

(4)当硅熔体的温度稳定以后,将固定在提拉结构上的线状籽晶浸入硅熔体中,保温

5-10min后提拉,提拉结构是由线径为10-30 微米钨丝线组成的钨丝线框,提拉速度在

20-50 mm/min;

(5)提拉结构与液面分开后,升至上炉室冷却20-60min后取出,超薄晶片覆盖在钨丝框上;

(6)开单晶炉取出硅片;

所述的线状单晶籽晶是通过激光区熔的方法固定在钨丝上,具体如下:将钨丝放在线状单晶籽晶之下,利用激光沿着钨丝方向移动,籽晶熔化,包覆住钨丝,达到了固定籽晶的作用;

所述的线状单晶籽晶是固定在钨丝线框水平方向上的钨丝上。