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专利号: 2013100659175
申请人: 溧阳华晶电子材料有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 基本电气元件
更新日期:2024-08-26
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种具有复合基板的薄膜电容器的制造方法,依次包括如下步骤:(1)准备如下配比的原料:大于或等于99.98重量%的镍,其余小于或等于0.02重量%为多种杂质,所述多种杂质包括:0.0005-0.0008重量%的锰、0.005-0.008重量%的铝、0.001-0.002重量%的银、0.0005-0.001重量%的铬、0.004-0.006重量%的铁、

0.0005-0.0012重量%的硅、0.001-0.002重量%的锑以及0.001-0.002重量%的钽;

(2)第一次轧制:将上述原料熔融后,对其进行第一次轧制,该第一次轧制所得的镍基板为箔片状,其厚度为3-5毫米;

(3)第一次热退火,步骤(2)所得的镍基板箔片进行第一次热退火,退火温度为

650-800℃,退火时间为60分钟;

(4)第二次轧制,对步骤(3)所得的镍基板箔片进行第二次轧制,第二次轧制后得到厚度更小的箔片,其厚度为1-2毫米;

(5)第二次热退火,将步骤(4)所得的镍基板箔片进行第二次热退火,退火温度为

650-800℃,退火时间为40分钟;

(6)将步骤(5)所得的镍基板贴合到纯度为99.999%的铜基板上进行第三次轧制,轧制后形成厚度为200-300微米的复合基板箔片;

(7)第三次热退火,将步骤(6)所得的复合基板箔片进行第三次热退火,退火温度为

700-800℃,退火时间为30分钟;

(8)按照四方相锆钛酸铅PbZr1-xTixO3的摩尔比例进行配置将氧化铅PbO2、二氧化锆ZrO2和二氧化钛TiO2粉末进行煅烧,从而烧结成PZT靶材;

(9)在磁控溅射反应室中,利用射频磁控溅射方法,在惰性气体环境中将PZT靶材溅射沉积在步骤(7)所得的复合基板箔片上;从而形成PbZr1-xTixO3电介质层;该电介质层的厚度为1-5微米;

(10)在磁控溅射反应室中,利用射频磁控溅射方法,在惰性气体环境中将金属材料溅射沉积在所述电介质层上,从而形成电极层,该电极层的厚度为100-200微米;

其中步骤(8)中,x取值是:0.05≤x≤0.85;其中煅烧温度为950℃-1200℃,煅烧时间为2.5-3小时。

2.如权利要求1所述的具有复合基板的薄膜电容器的制造方法,其特征在于:-5

其中,步骤(9)和(10)中,射频磁控溅射反应室的真空度都为10 帕斯卡;而步骤(9)中,射频磁控溅射的射频功率为150-200W,溅射时间为60分钟;步骤(10)中,射频磁控溅射的射频功率100-150W,溅射时间为120分钟。