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专利号: 2013102473128
申请人: 重庆邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2025-02-08
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于定标的场景自适应IRFPA非均匀性校正方法,其特征在于包括以下步骤:

101、在均匀标准参考面源的辐射下,采集红外焦平面阵列IRFPA在至少两个不同温度点的红外图像作为模板,模板图像对应探测单元的响应Vij(φ),其中:φ为均匀辐射通量,i、j分别为红外焦平面阵列探测单元的横坐标和纵坐标;

102、根据若干个温度点时的模板图像对应的响应Vij(φ),计算出校正增益系数G(i,j)和校正偏置系数O(i,j);

103、根据场景图像的响应X(i,j)与模板图像的响应Vij(φ)之间的相关系数计算式计算出相关系数R(p,q),,其中(p,q)为区域块的位置坐标;

104、根据公式Y(i,j)=G(i,j)*X(i,j)+R(p,q)*O(i,j),得出校正后的场景图像输出Y(i,j)。

2.根据权利要求1所述的基于定标的场景自适应IRFPA非均匀性校正方法,其特征在于:步骤101中,红外焦平面阵列温度选取范围为-20°C到80°C。

3.根据权利要求1所述的基于定标的场景自适应IRFPA非均匀性 校正方 法,其特 征在 于:步 骤102中,校正 增 益系 数G(i,j)的 计 算公 式为:校 正 偏 置 系 数 O(i,j) 的 计 算 公 式 为其中Vij(φ1)和Vij(φ2)为焦平面上各探测单元在

φ1和φ2处的响应值, 和 为焦平面上各探测单元在φ1和φ2处的响应均值。

4.根 据 权 利 要 求 1所 述 的 基 于 定 标 的 场 景 自 适 应 IRFPA非 均 匀性 校 正 方 法,其 特 征 在 于:步 骤103 中,相 关 系 数R(p,q)的 计 算 式 为式中,M表示图像的行数,N表示图像的列数,M×N表示图像像素的个数, 和 分别表示场景图像和模板图像的均值。

5.根据权利要求1所述的基于定标的场景自适应IRFPA非均匀性校正方法,其特征在于:步骤104中,对校正后的场景图像区域块采用均值滤波法对边界灰度值进行补偿。