1.一种X射线探测和成像系统的双镜式探测分析方法，其特征在于：实现该方法的双镜式探测光学部件包括双镜镜筒、X射线跨接式组合折射透镜和第一X射线组合折射透镜，所述X射线跨接式组合折射透镜包括第二X射线组合折射透镜和第三X射线组合折射透镜，所述第二X射线组合折射透镜与所述第一X射线组合折射透镜具有相同的入射口径，所述第二X射线组合折射透镜出射端与所述第三X射线组合折射透镜的入射端连接；所述X射线跨接式组合折射透镜、第一X射线组合折射透镜位于所述双镜镜筒内，所述X射线跨接式组合折射透镜的光轴与第一X射线组合折射透镜的光轴平行，所述X射线跨接式组合折射透镜的聚焦光斑尺寸比第一X射线组合折射透镜的聚焦光斑尺寸小；所述双镜式探测分析方法包括以下步骤：（1）首先调整双镜镜筒，将所述第一X射线组合折射透镜移入光路，使得X射线探测和成像系统的X射线光管所发出的X射线光束的光轴与第一X射线组合折射透镜的光轴重合，让X射线光管发出的X射线光束照射到第一X射线组合折射透镜的入射口径处；

接着，从所述第一X射线组合折射透镜出射的X射线光束传输入X射线探测和成像系统的X射线探测器进行探测分析，得到初步检测分析结果；

（2）经步骤（1）得到初级检测分析结果，判断是否需要对目标进行精细结构的探测分析，如果需要，进入步骤（3）；

（3）调整双镜镜筒，将所述第一X射线组合折射透镜移出光路，同时将所述X射线跨接式组合折射透镜移入光路，使得X射线探测和成像系统的X射线光管所发出的X射线光束的光轴与X射线跨接式组合折射透镜的光轴重合，让X射线光管发出的X射线光束照射到X射线跨接式组合折射透镜的入射口径处；

接着，从所述X射线跨接式组合折射透镜出射的X射线光束传输入X射线探测和成像系统的X射线探测器进行探测分析，得到二级检测结果。

2.如权利要求1所述的X射线探测和成像系统的双镜式探测分析方法，其特征在于：

所述双镜镜筒内安装1个第一X射线组合折射透镜和至少两个X射线跨接式组合折射透镜，至少两个X射线跨接式组合折射透镜的聚焦光斑尺寸由大到小分级；所述双镜式探测分析方法还包括以下步骤：（4）经步骤（3）得到二级检测结果，对结果进行分析，判断是否需要调整不同的探测分辨率，对被检目标进行进一步的分析，如果需要，进入步骤（5）；

（5）调整双镜镜筒，另一个X射线跨接式组合折射透镜的聚焦光斑尺寸比所述一个X射线跨接式组合折射透镜的聚焦光斑尺寸小，将所述一个X射线跨接式组合折射透镜移出光路，同时将所述另一个X射线跨接式组合折射透镜移入光路，重复步骤（3）针对所述一个X射线跨接式组合折射透镜的操作，得到三级检测结果；

（6）依次类推，逐级增加探测分辨率，直到检测得到针对被检目标的满意的检测结果。

3.如权利要求1或2所述的X射线探测和成像系统的双镜式探测分析方法，其特征在于：所述步骤（1）中，对于X射线荧光分析系统而言，所述第一X射线组合折射透镜对X射线光管发射的X射线光束聚焦，形成探测光斑对被检样品进行分析。

4.如权利要求1或2所述的X射线探测和成像系统的双镜式探测分析方法，其特征在于：所述步骤（1）中，对于X射线显微系统而言，须将被检目标放置在X射线光管与X射线组合折射透镜之间，利用所述第一X射线组合折射透镜的光学原理进行显微放大。

5.如权利要求1或2所述的X射线探测和成像系统的双镜式探测分析方法，其特征在于：所述双镜式探测光学部件还包括双镜机械调整机构，所述双镜镜筒安装在用以将X射线跨接式组合折射透镜或第一X射线组合折射透镜移出或移入X射线探测和成像系统光路的双镜机械调整机构上；所述步骤（3）中，移出移入动作和精度由所述双镜机械调整机构决定。