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专利号: 2013103640683
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,其特征在于:所述聚焦性能测试装置包括底座导轨、位于所述底座导轨上的X射线光管、激光器、金属丝和X射线探测器件,所述底座导轨呈纵向布置;

调整台位于所述底座导轨的一侧,所述X射线光管、激光器的光轴均呈纵向布置,所述X射线光管、激光器可横向移动地安装在所述调整台上;待检测X射线组合折射透镜位于所述底座导轨的中部,所述待检测X射线组合折射透镜的光轴呈纵向布置;所述X射线探测器件位于所述底座导轨的另一侧,所述X射线探测器件的光轴与所述X射线组合折射透镜的光轴在同一直线上;所述X射线光管或激光器的出射端与所述待检测X射线组合折射透镜的入射端呈相对设置,所述待检测X射线组合折射透镜的出射端与X射线探测器件呈相对设置;

在所述待检测X射线组合折射透镜和X射线探测器件之间的底座导轨上可纵向移动地安装调节支架,所述调节支架上可横向移动地安装横向滑块,所述横向滑块上安装用于切割经X射线组合折射透镜聚焦后的探测光束的金属丝,所述金属丝的尺寸要求是微米量级。

2.如权利要求1所述的X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,其特征在于:所述激光器为可见光波段激光器。

3.如权利要求1或2所述的X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,其特征在于:所述调整台为用以将X射线光管和激光器移入移出光路的多维精密调整台。

4.如权利要求1或2所述的X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,其特征在于:所述底座导轨的一侧安装第一支架,所述第一支架上安装所述调整台,所述底座导轨的中部安装用以放置待检测X射线组合折射透镜的第二支架,所述底座导轨的另一侧安装第三支架,所述第三支架上安装X射线探测器件。

5.如权利要求1或2所述的X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,其特征在于:所述第一支架、第二支架和第三支架可纵向移动地安装在所述底座导轨上。

6.如权利要求1或2所述的X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,其特征在于:所述待检测X射线组合折射透镜的表面设有标示光轴的标记。