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专利号: 2013104655864
申请人: 天津工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2023-09-13
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种电子散斑干涉无损检测条纹图像骨架线提取方法,包括下列步骤:步骤1:获得并输入一幅电子散斑干涉无损检测条纹图像I;

步骤2:令Ii,j代表像素(i,j)的灰度值I(i,j),计算得到该电子散斑干涉无损检测条纹图像I(i,j)的梯度场为F(i,j)=(u(i,j),v(i,j)),其中:

步骤3:设定离散时间tn=n△t,△t是离散时间步长,n是迭代次数,及偏微分方程沿条纹图像法线方向的滤波系数C;

步骤4:根据步骤3设定的参数构造偏微分方程, 其中: 是图像梯度方向即条纹法线方向的单位矢量,η是与图像梯度方向垂直即条纹切线方向的单位矢量;

Iηη和Iξξ分别是I在η方向和ξ方向上的二阶偏导数,以方向角θi,j表示像素(i,j)的条纹方向与X轴的夹角,则:

2 2

Iηη=Ixxcosθ+Iyysinθ+2IxysinθcosθIξξ=Iyycos2θ+Ixxsin2θ-2Ixysinθcosθ步骤5:由该偏微分方程 调整电子散斑干涉无损检测条纹图像I(i,j)的梯度场,即:

其中, 表示u(i,j,tn),时间导数项ut在(i,j,tn)的离散格式为 同样令 表示v(i,j,tn),时间导数项vt在(i,j,tn)的离散格式为 并得出电子散斑干涉无损检测调整后的梯度场(u,v)的一阶导数及二阶导数,其中uηη和uξξ分别是u沿着条纹切线方向和法线方向的二阶导数,vηη和vξξ分别是v沿着条纹切线方向和法线方向的二阶导数;

步骤6:根据步骤5求出的电子散斑干涉无损检测调整后的梯度场(u,v)的一阶导数及二阶导数,求取梯度场F=(u,v)的散度A;

步骤7:根据散度A的正负源确定电子散斑干涉无损检测条纹图像的骨架线,包括:于某一点(i,j),

若divA(i,j)>0,则该点为正源点,该点对应电子散斑干涉无损检测条纹图像中的暗条纹图像骨架点;

若divA(i,j)<0,则该点为负源点,该点对应电子散斑干涉无损检测条纹图像中的亮条纹图像骨架点;

若divA(i,j)=0,该点为无源点,该点为非骨架点;

以此类推,得出电子散斑干涉无损检测条纹图像中的所有骨架点,从而提取电子散斑干涉无损检测条纹图像骨架线。