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专利号: 2013105709984
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-04
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征是,

薄膜支撑架(7)将光致变形薄膜(8)周边固定并保持平面状态,采用薄膜边界位移控制器(9)调节薄膜边界位移量,进而调节薄膜预张力,从而完成薄膜初始状态的保持;

激光器(18)发射的激光通过第一激光准直镜(17)得到准直的激光,准直激光通过强度相位调制器(16)、自由空间光隔离器(15)和偏振态控制器(14)完成强度、相位、偏振方向和偏振态的调整,得到单偏振态的准直激光,该单偏振态的准直激光通过分光棱镜(13)进入液晶空间调制器(12)进行小角度偏转,再通过偏振旋转器(11)改变偏转方向,而后激光经过双折射棱镜(10)扫描输出到光致变形薄膜(8)的表面完成薄膜拉伸变形,从而完成薄膜面形控制过程;

激光经过光致变形薄膜(8)散射回来后经过双折射棱镜(10)、偏振旋转器(11)、液晶调制器(12)和分光棱镜(13)后进入第二激光准直镜(19),激光经过第二激光准直镜(19)会聚到达光电探测器(20),完成单点激光测距,通过多点测量后可拟合出薄膜拉伸变形量,与理想面形作比较给面形控制系统提供面形修正量,从而完成薄膜面形的测量。

2.根据权利要求1所述的光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征在于,所述双折射棱镜(10)、偏振旋转器(11)和液晶空间光调制器(12)用于实现激光大角度扫描,其工作波段为365nm波段。

3.根据权利要求1所述的光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征在于,所述分光棱镜(13)镀有365nm波段半透半反膜。

4.根据权利要求1所述的光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征在于,所述两个激光准直镜表面镀有365nm波段全透射膜。

5.根据权利要求1所述的光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征在于,所述自由空间光隔离器(15)工作波长为365nm波段,用于隔离散射回光路的激光。

6.根据权利要求1所述的光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征在于,所述强度相位调制器(16)工作波段为紫外波段,用于调整激光的强度和相位。

7.根据权利要求1所述的光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征在于,所述激光器(18)工作波长为365nm波段。

8.根据权利要求1所述的光致变形薄膜反射镜的面形控制及测量装置,其特征在于,所述光电探测器(20)为GaN探测器,其工作波段为近紫外波段可探测经过光致变形薄膜散射回来的光,用于激光测距。