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专利号: 2013107330864
申请人: 西南交通大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 微观结构技术〔7〕
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于摩擦化学诱导刻蚀的单晶硅表面无损伤纳米加工方法,其具体操作步骤依次为:

A、将质量浓度为98%的H2SO4溶液和质量浓度为30%的H2O2溶液按7:2-3的体积比混合得到混合溶液;将混合溶液加热到80-90℃;再将HF溶液钝化处理过的单晶硅置于混合溶液中处理25-35分钟,使其表面上生长出SiOx薄层;然后将生长有SiOx薄层的单晶硅取出,并清洗;

B、将尖端呈球状的二氧化硅探针安装在扫描探针显微镜上,将A步得到的单晶硅固定在样品台上,启动设备,控制探针以1GPa的接触压力、按照设定的扫描轨迹在样品表面进行扫描,使扫描区域的SiOx薄层被去除,基底暴露;

C、将异丙醇加入到质量浓度为10-25%的KOH溶液中得混合溶液,加入时异丙醇与KOH溶液的体积比为1:4-6;将B步处理后的单晶硅置于混合溶液中刻蚀2-60分钟。