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专利号: 2014100330529
申请人: 苏州久易光电科技有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 光学
更新日期:2024-02-26
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于包括以下步骤:

A)制作透镜驱动装置,该透镜驱动装置包括一第一磁轭(1),该第一磁轭(1)构成有一底壁(11)和一磁轭腔(12),在底壁(11)的中央位置开设有一与磁轭腔(12)相通的透镜载体配合孔(111);一绝缘片(2),该绝缘片(2)置入于所述磁轭腔(12)内,与所述底壁(11)朝向磁轭腔(12)的一侧接触,并且该绝缘片(2)的四周边缘侧面(21)与磁轭腔(12)的腔壁接触,在绝缘片(2)的中央位置开设有一形状以及大小与所述透镜载体配合孔(111)相一致的并且位置与透镜载体配合孔(111)相对应的透镜载体让位孔(22);容纳于所述磁轭腔(12)内的一第一簧片(3)和一垫片(4),第一簧片(3)位于所述绝缘片(2)与垫片(4)之间,垫片(4)的垫片侧面(41)与磁轭腔(12)的腔壁接触;一透镜载体(5)和一线圈(6),透镜载体(5)连同线圈(6)容纳于所述磁轭腔(12)内,该透镜载体(5)朝向所述底壁(11)的一侧与第一簧片(3)相配合,并且该透镜载体(5)还与所述透镜载体配合孔(111)相配合,线圈(6)绕设在透镜载体(5)的外周壁上;一组磁石(7),该一组磁石(7)嵌置在所述磁轭腔(12)内并且各磁石的内侧圆弧面(71)与所述线圈(6)相配合;一容纳于所述磁轭腔(12)内的第二簧片(8),该第二簧片(8)朝向所述磁石(7)的一侧与磁石(7)贴触,并且同时与所述透镜载体(5)背对所述第一簧片(3)的一侧相配合,而第二簧片(8)的簧片边缘侧面(81)与磁轭腔(12)的腔壁贴触,在该第二簧片(8)的中央构成有一通孔(82),该通孔(82)的直径与所述透镜载体配合孔(111)的直径相等;一第二磁轭(9),该第二磁轭(9)与所述的第一磁轭(1)相配合,在该第二磁轭(9)的中央位置开设有直径与所述通孔(82)的直径相等的透镜载体孔(91),其中:在所述的第一磁轭(1)的所述底壁(11)上并且围绕所述透镜载体配合孔(111)的四周以间隔状态开设有与所述磁轭腔(12)相通的一组透镜载体调整孔(112),在一组透镜载体调整孔(112)上各配设有用于对容纳于磁轭腔(12)内的并且与透镜载体配合孔(111)相配合的所述透镜载体(5)实施调整的透镜载体调整螺钉(1121),透镜载体调整螺钉(1121)与透镜载体(5)朝向所述底壁(11)的一侧接触;

B)在所述的透镜载体(5)内安装一测试用的标准镜头S,该标准镜头S具有一激光反射区域S1,先将安装有标准镜头S的所述透镜驱动装置安顿于激光测试仪中,开启激光测试仪,将由激光测试仪发出的激光束对准激光反射区域S1,并且在该激光反射区域S1内选取两个或以上的任意测点投射激光,每选取一个测点投射一次激光便按下一次激光测试仪的按钮一次,从而在激光测试仪的显示装置的屏幕上显示激光反射区域S1内的各个测点的激光反射最大行程值数据;

C)对由步骤B)得到的并且由所述屏幕显示的激光反射区域S1内的各个测点的激光反射最大行程值数据进行观察,当各个测点的激光反射最大行程值数据相同时,则设置在所述透镜载体(5)上的所述标准镜头S的标准镜头光轴中心Z与所述第一磁轭(1)的低壁(11)平面的垂直方向之间的夹角θ为零度,所述的透镜载体(5)处于水平状态,当各个测点的激光反射最大行程值数据不同时,则设置在所述透镜载体(5)上的所述标准镜头S的镜头光轴中心Z与所述第一磁轭(1)的低壁(11)平面的垂直方向之间的夹角θ不为零度,所述透镜载体(5)处于非水平状态,通过对所述透镜载体调整螺钉(1121)调整而直至使透镜载体(5)处于水平状态。

2.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于所述的第一磁轭(1)的外廓为矩形或圆形,并且在所述的底壁(11)的边缘部位开设有一组安装架插脚孔(113)。

3.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于在所述的绝缘片(2)的透镜载体让位孔(22)的孔壁上并且在对应于所述的一组透镜载体调整孔(112)的位置凹设有数量与透镜载体调整孔(112)相等的调整螺钉让位凹腔(221)。

4.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于所述的第一簧片(3)由第一簧片瓣(31)和第二簧片瓣(32)共同构成,第一、第二簧片瓣(31、32)以彼此对应的状态设置在所述绝缘片(2)与垫片(4)之间,在第一簧片瓣(31)的两端各构成有彼此连结的第一簧丝(311),并且在第一簧片瓣(31)的两端还各开设有一第一透镜载体配合榫孔(312),在第二簧片瓣(32)的两端各构成有相互连结的第二簧丝(321),并且在第二簧片瓣(32)的两端还各开设有一第二透镜载体配合榫孔(322),其中:在第一簧片瓣(31)的一端构成有一第一端脚(313),而在第二簧片瓣(32)的一端构成有一第二端脚(323),第一、第二端脚(313、323)彼此对应,所述的透镜载体(5)朝向所述底壁(11)的一侧与所述的第一透镜载体配合榫孔(312)以及第二透镜载体配合榫孔(322)相配合;所述的第二簧片(8)具有一组第三簧丝(83),并且在该第二簧片(8)上开设有一组透镜载体配合锁轴孔(84),透镜载体(5)朝向第二簧片(8)的一侧与一组透镜载体配合锁轴孔(84)相配合。

5.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于在所述的透镜载体(5)朝向所述底壁(11)的一侧的上部构成有一对第一配合榫(51),而下部构成有一对第二配合榫(52),一对第一配合榫(51)的位置与所述的第一透镜载体配合榫孔(312)相对应并且与第一透镜载体配合榫孔(312)榫卯配合,一对第二配合榫(52)的位置与所述的第二透镜载体配合榫孔(322)相对应并且与第二透镜载体配合榫孔(322)榫卯配合。

6.根据权利要求4所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于在所述的透镜载体(5)朝向所述第二簧片(8)的一侧并且在对应于所述的一组透镜载体配合销轴孔(84)的位置构成有数量与一组透镜载体配合销轴孔(84)的数量相等的透镜载体配合销轴(53),透镜载体配合销轴(53)与透镜载体配合销轴孔(84)榫卯配合。

7.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于在所述透镜载体(5)朝向所述底壁(11)的一侧的表面并且围绕透镜载体(5)的圆周方向凹设构成有一螺钉调整腔(54),所述的透镜载体调整螺钉(1121)与螺钉调整腔(54)的腔底壁接触。

8.根据权利要求1所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于开设在所述第一磁轭(1)的底壁(11)上的所述一组透镜载体调整孔(112)为螺纹孔;所述第二磁轭(9 )与所述第一磁轭(1)的磁轭腔(12)插嵌配合,并且当第二磁轭(9)与磁轭腔(12)插嵌配合后,所述的一组磁石(7)隔着所述第二簧片(8)对应于第二磁轭(9)的四个角部。

9.根据权利要求1或8所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于在所述的第二磁轭(9)朝向所述第一磁轭(1)的一侧的四周边缘部位构成有突起于第二磁轭(9)的表面的嵌合栈边(92),该嵌合栈边(92)与所述磁轭腔(12)插嵌配合。

10.根据权利要求8所述的透镜驱动装置的光轴度测试方法,其特征在于在所述第二磁轭(9)的四个角部各构成有一形状与所述磁石(7)相吻合的磁石配合腔(93),磁石(7)与该磁石配合腔(93)相对应。