1. 一种精确测量介电常数的测试系统，其特征在于：包括天线部分、射频电路部分以及数据处理显示部分；所述天线部分包括测试天线和散射样本；所述射频电路部分包括射频信号源和射频电路，其中射频电路由定向耦合器、低噪声放大器、功分器、混频器以及低通滤波器组成；所述数据处理显示部分由放大电路与ARM 开发板组成。2. 根据权利要求1 所述的一种精确测量介电常数的测试系统，其特征在于：测量的具体步骤为：（1）给测试天线施加一个激励，产生辐射场，同时测试天线在端口处具有输入阻抗；随后放入散射样本，测试天线产生新的辐射场，同时在端口处具有新的输入阻抗，通过辐射场与输入阻抗的变化求出散射样本的介电常数和损耗，公式如下：其中，无样本时测试天线的输入阻抗为，测试天线终端的电流为（即为的倒数），为空气的电导率（为0），为空气的介电常数（即为空气介电常数，已知），为（即样本体积）内的电场（在仿真中提取），为天线的角频率（，为天线激励的频

率），有样本时测试天线的输入阻抗为，为样本的电导率，为要求样本的介电常数（），为内的电场，可以通过计算得出，计算出无样本时测试天线的输入阻

抗和有样本时测试天线的输入阻抗；

（2）利用电磁场仿真软件进行模拟和仿真，设计出一个贴片微带天线，得到要求的输入阻抗和电场分布，再用Matlab 对仿真的数据进行处理验证；（3）按照仿真的贴片微带天线做出实物，用网络分析仪测量中心频点和输入阻抗，验证贴片微带天线实物的正确性；（4）加工好待测的散射体样本，用不同的微波材料加工成不同的形状；（5）将散射体样本放入贴片微带天线的辐射场中，测出此时贴片微带天线的输入阻抗；（6）通过测试系统自动计算出散射体样本的相对介电常数（）和损耗角正切（）；（7）改变测试频率，重复以上步骤，对散射体样本进行扫频测试，测量不同频率下的相对介电常数的损耗角正切。3. 根据权利要求2 所述的一种精确测量介电常数的测试系统，其特征在于：所述步骤（6）中：当所测散射体样本介电常数比较低时（介电常数<10），，采用微扰法：当所测样本介电常数比较高时（介电常数>10），根据哈林顿的腔体微扰理论，推导出与之间的关系，再采用静态场法：