1.一种腐蚀检测方法，用于检测电子设备的腐蚀情况，其特征在于，包括：

获取腐蚀功能检测电路的检测结果，所述腐蚀功能检测电路连接在电子设备的腐蚀薄弱部位；

根据获取到的检测结果确定所述电子设备的腐蚀失效寿命；

所述腐蚀功能检测电路与预先确定的腐蚀模式相对应；

当所述腐蚀模式为电化学腐蚀时，获取腐蚀功能检测电路的检测结果，具体包括：

所述腐蚀功能检测电路中包括对插的梳状电极结构的金属走线及电阻；所述对插的梳状电极结构的金属走线的一侧与所述电阻的一侧相连，另一侧接地；所述电阻的另一侧用于连接所述电子设备的腐蚀薄弱部位，则获取所述腐蚀功能检测电路中对插的梳状电极结构的金属走线两端点之间的电压差；或者所述腐蚀功能检测电路中包括两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及电阻；其中一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述电阻的一侧，所述电阻的另一侧用于连接待检测电子设备的腐蚀薄弱位置，则获取所述腐蚀功能检测电路中螺旋形状的金属走线两端点之间的电压差；或者所述腐蚀功能检测电路中包括两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及时域反射计TDR；其中一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述TDR的一侧，所述TDR的另一侧连接所述电子设备的腐蚀薄弱部位，所述两条螺旋形状的金属走线之间的间距由最内圈至最外圈逐渐增大，则获取所述腐蚀功能检测电路中的时域反射计TDR检测到的螺旋形状的金属走线发生腐蚀的时间；

根据获取到的检测结果确定所述电子设备的腐蚀失效寿命，具体包括：

根据所述电压差或者所述时间确定所述电子设备的的腐蚀失效寿命。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述电子设备的散热风道确定所述腐蚀薄弱部位。

3.一种腐蚀检测装置，用于检测电子设备的腐蚀情况，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，用于获取腐蚀功能检测电路的检测结果，所述腐蚀功能检测电路连接在电子设备的腐蚀薄弱部位；

确定单元，用于根据所述获取单元获取到的检测结果确定所述电子设备的腐蚀失效寿命；

所述确定单元，还用于确定电子设备的腐蚀模式，所述腐蚀功能检测电路与所述确定单元确定的腐蚀模式相对应；

所述获取单元，具体用于：

在所述确定单元确定的腐蚀模式为电化学腐蚀时，所述腐蚀功能检测电路中包括对插的梳状电极结构的金属走线及电阻；所述对插的梳状电极结构的金属走线的一侧与所述电阻的一侧相连，另一侧接地；所述电阻的另一侧用于连接所述电子设备的腐蚀薄弱部位，则获取所述腐蚀功能检测电路中对插的梳状电极结构的金属走线两端点之间的电压差；或者所述腐蚀功能检测电路中包括两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及电阻；其中一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述电阻的一侧，所述电阻的另一侧用于连接待检测电子设备的腐蚀薄弱位置，则获取所述腐蚀功能检测电路中螺旋形状的金属走线两端点之间的电压差；或者所述腐蚀功能检测电路中包括两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及时域反射计TDR；其中一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述TDR的一侧，所述TDR的另一侧连接所述电子设备的腐蚀薄弱部位，所述两条螺旋形状的金属走线之间的间距由最内圈至最外圈逐渐增大，则获取所述腐蚀功能检测电路中的时域反射计TDR检测到的螺旋形状的金属走线发生腐蚀的时间；

所述确定单元，具体用于根据所述获取单元获取到的电压差或者所述时间确定所述电子设备的的腐蚀失效寿命。

4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述确定单元，还用于根据电子设备的散热风道确定所述腐蚀薄弱部位。

5.一种腐蚀检测系统，其特征在于，包括：

如权利要求3或4所述的电子设备腐蚀检测装置；和

至少一个腐蚀功能检测电路，所述腐蚀功能检测电路连接在电子设备的腐蚀薄弱部位；

所述腐蚀功能检测电路与预先确定的腐蚀模式相对应，在所述腐蚀模式为电化学腐蚀时，所述腐蚀功能检测电路包括：对插的梳状电极结构的金属走线及电阻；所述对插的梳状电极结构的金属走线的一侧与所述电阻的一侧相连，另一侧接地；所述电阻的另一侧用于连接待检测电子设备的腐蚀薄弱位置；或者两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及电阻；其中一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述电阻的一侧，所述电阻的另一侧用于连接待检测电子设备的腐蚀薄弱位置；或者两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及时域反射计TDR；其中一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述TDR的一侧，所述TDR的另一侧连接待检测电子设备的腐蚀薄弱位置，所述两条螺旋形状的金属走线之间的间距由最内圈至最外圈逐渐增大。