1.一种基于光子技术的多普勒频移检测方法，在由连续激光源(10)、第一光耦合器(20)和第二光耦合器(21)、光载波抑制型单边带调制模块(30)、第二电光调制器(40)、声光调制器(50)、低速光电探测器(60)构成的装置平台上；从激光源(10)出发，输出光经第一光耦合器(20)分成两支路，上支路进入光载波抑制型单边带调制模块(30)，该模块由第一电光调制器(301)和一个带通滤波器(302)顺序连接而成；发射的微波/毫米波信号，频率为fm，在第一电光调制器(301)中对该路光载波进行外调制，然后经带通滤波器(302)滤波后仅得到单个一阶光边带，此单个一阶光边带作为光载波进入到第二电光调制器(40)被反射回来的微波/毫米波回波信号调制，频率为 下支路光载波进入到声光调制器(50)中，使光源频率发生fs偏移，此时光波频率为fc+fs，fc为激光源的频率， 为多普勒频移矢量；两路输出经第二光耦合器(21)合并进入到低速光电探测器(60)中，拍频后对得到的射频信号频谱进行分析得到多普勒频移量及方向；在此过程中，连续激光源输出的光载波经第一光耦合器分成两支路：一路光载波首先进入到光载波抑制型单边带调制模块中被发射的微波/毫米波信号调制，产生的单个光边带进入到第二电光调制器中被反射回来的、含多普勒频移信息的微波/毫米波信号调制；另一路光载波经声光调制器实现一定的光学频移fs；所述两支路的输出合并后进入到低速光电探测器中，拍频产生低频射频信号；通过分析得到的低频射频信号频谱，获得多普勒频移量及方向；即：在设定的光学频移量fs下，分析产生的低频射频信号的频谱得到其频率为Δf；当Δf＞fs，判断出多普勒频移方向为波源与观测者相向运动或靠近，推算出多普勒频移值为fd＝Δf-fs；当Δf＜fs，判断出多普勒频移方向为波源与观测者反向运动或远离，推算出多普勒频移值为fd＝fs-Δf。

2.实现权利要求1方法的基于光子技术的多普勒频移检测装置，其特征在于，由连续激光源(10)、第一光耦合器(20)和第二光耦合器(21)、光载波抑制型单边带调制模块(30)、第二电光调制器(40)、声光调制器(50)、低速光电探测器(60)构成；从激光源(10)出发，其输出光经第一光耦合器(20)分成两支路，上支路进入光载波抑制型单边带调制模块(30)，该模块由第一电光调制器(301)和带通滤波器(302)顺序连接而成；发射的微波/毫米波信号，频率为fm，在第一电光调制器(301)中对该路光载波进行外调制，然后经带通滤波器(302)滤波后仅得到单个一阶光边带，此单个一阶光边带作为光载波进入到第二电光调制器(40)被反射回来的微波/毫米波回波信号，频率为 调制；下支路光载波进入到声光调制器(50)中，使光源频率发生fs偏移，此时光波频率为fc+fs；两路输出经第二光耦合器(21)合并进入到低速光电探测器(60)中，拍频后对得到的射频信号频谱进行分析得到多普勒频移量及方向。

3.根据权利要求2所述之频移检测装置，其特征在于，所述第一电光调制器(301)和第二电光调制器(40)可为强度调制器或相位调制器。