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专利号: 2014107359867
申请人: 燕山大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种工件质量损失检测设备,其特征在于,包括:

载荷平台,固定在所述载荷平台上的型材构架,安装在所述型材构架上且能够在所述型材构架上移动的定位装置,以及固定安装在所述定位装置上的激光扫描传感器;

所述检测设备还包括与所述激光扫描传感器相连的计算机控制模块;

所述激光扫描传感器,用于由所述定位装置带动沿位于所述载荷平台上的细长形状的被测工件平滑移动,在移动的过程中对所述被测工件的轮廓线进行扫描,得到检测数据,并将所述检测数据传输给所述计算机控制模块;

所述计算机控制模块,用于基于接收的所述检测数据确定所述被测工件的质量损失。

2.如权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述计算机控制模块还与所述定位装置相连,用于在对所述被测工件进行检测时,控制所述定位装置带动所述激光扫描传感器沿所述被测工件平滑移动。

3.如权利要求2所述的检测设备,其特征在于,所述计算机控制模块,具体用于控制所述定位装置带动所述激光扫描传感器沿所述被测工件匀速平滑移动;

所述激光扫描传感器,具体用于按照预设扫描周期对所述被测工件的轮廓线进行扫描。

4.如权利要求2所述的检测设备,其特征在于,所述计算机控制模块,具体用于控制所述定位装置带动所述激光扫描传感器沿所述被测工件按照预设步长平滑移动;

所述激光扫描传感器,具体用于在所述定位装置按照所述预设步长每移动一次,对所述被测工件的轮廓线扫描一次。

5.如权利要求1-4任一所述的检测设备,其特征在于,所述型材构架具有同步带导轨;

所述定位装置包括滑块,用于在所述同步带导轨上平滑移动;

所述激光扫描传感器固定安装在所述滑块上。

6.一种基于权利要求1所述的检测设备的工件质量损失检测方法,其特征在于,包括:所述计算机控制模块获取接收的所述检测数据,所述检测数据包括所述激光扫描传感器沿所述被测工件平滑移动过程中,每次扫描得到的表示所述被测工件横截面的轮廓线上各扫描点横向位置的横向检测数据和纵向位置的纵向检测数据;

基于每次扫描得到的所述各扫描点的所述横向检测数据和纵向检测数据,以及每次扫描时所述定位装置当前所在位置表示的所述被测工件横截面的轮廓线上各扫描点沿所述被测工件方向的长度数据,确定所述被测工件表面的所述各扫描点的三维坐标;

根据所述被测工件表面的所述各扫描点的三维坐标,确定所述被测工件的表面损失体积;

基于所述被测工件的所述表面损失体积和所述被测工件的材料密度,确定所述被测工件的质量损失。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,根据所述被测工件表面的所述各扫描点的三维坐标,确定所述被测工件的表面损失体积,具体包括:根据表示所述被测工件表面的所述各扫描点的高度的Z坐标,构建Z坐标的m*n阶的数据矩阵,其中,m为每次扫描的扫描点的数量,n为扫描的次数;

使用边缘检测算法,对构建的所述数据矩阵表示的灰度图像进行边缘检测,确定所述被测工件的损伤区域;

根据所述被测工件表面的所述损伤区域内的各扫描点的三维坐标,确定所述被测工件的表面损失体积。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,根据所述被测工件表面的所述损伤区域内的各扫描点的三维坐标,确定所述被测工件的表面损失体积,具体包括:采用如下公式确定所述被测工件表面的所述损伤区域中第j列的基准:其中,u为所述损伤区域中的第j列的基准,所述损伤

区域中第j列的边缘点坐标为(p,j)和(q,j),Zij为所述损伤区域中第i行第j列的Z坐标;

采用如下公式确定所述被测工件的表面损失体积:

其中,V为所述被测工件的表面损失体积,uj为所述损伤区域中的第j列的基准,s为单个扫描点所对应的微元面积。

9.如权利要求6-8任一所述的方法,其特征在于,所述检测数据为多次检测得到的检测结果的平均值。

10.如权利要求6-8任一所述的方法,其特征在于,在确定所述被测工件表面的所述各扫描点的三维坐标之后,还包括:使用逆向工程算法对所述各扫描点的三维坐标进行三维重建,创建所述被测工件表面的可视化模型;

展现所述可视化模型。