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专利号: 2014108091085
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-28
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种磁力显微镜差分磁力成像方法,其特征在于:采用外加磁场对同一探针进行两次相反方向的磁化并对样品的同一位置进行扫描,用图像匹配对两幅图像进行准确定位,然后将获得准确位置信息的两幅磁力像进行差分运算,排除背景力对磁力像的干扰,获得高质量的磁力像。

2.根据权利要求1所述一种磁力显微镜差分磁力成像方法,其特征在于:所述的磁力显微镜差分磁力成像需要的外加磁场采用的是一对磁极,探针被放入由一对磁极产生的磁场中进行磁化,完成第一次扫描后将磁极方向逆转,对探针进行反向磁化。

3.根据权利要求1所述一种磁力显微镜差分磁力成像方法,其特征在于:所述的磁力显微镜差分磁力成像采用差分运算方法,用相反磁化方向的探针对样品进行扫描获得磁力像进行的差分运算。

4.根据权利要求1所述一种磁力显微镜差分磁力成像方法,其特征在于:所述的磁力显微镜差分磁力成像排除的背景力包括范德华力和包括静电力在内的不受磁化方向逆转所影响的力。

5.根据权利要求1所述一种磁力显微镜差分磁力成像方法,其特征在于:所述的磁力显微镜差分磁力成像的高质量表现在信噪比的提高。

6.根据权利要求1所述一种磁力显微镜差分磁力成像方法,其特征在于:所述的磁力显微镜差分磁力成像的高质量表现在对比度的改善。