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专利号: 2015100217183
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 清洁
更新日期:2023-11-27
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,其特征包括下列步骤:(1)将BOPP薄膜即普通型双向拉伸聚丙烯薄膜放入去离子水中,对BOPP薄膜进行超声清洗,将清洗好的BOPP薄膜固定在强磁铁上;

(2)对BOPP薄膜表面进行成像,选取一处平坦区域作为目标区域,将针尖移动到目标区域;

(3)驱动针尖压入BOPP薄膜中,并使针尖在薄膜中停留;在驱动针尖压入BOPP薄膜时,首先操纵磁力显微镜在轻敲模式下扫描图像,然后选择表面平坦的目标区域,将磁力显微镜操作模式换为接触模式,同时给针尖提供向下的压力,控制针尖压入BOPP薄膜50-100nm,使针尖在薄膜中停留4-6s稳定后,抬起探针;

(4)驱动探针退针离开薄膜,重复针尖压入和退针动作。

2.根据权利要求1所述的一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,其特征在于:所述BOPP薄膜为普通型双向拉伸聚丙烯薄膜,厚度为20-40μm。

3.根据权利要求1所述的一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,其特征在于:所述强磁铁为钕铁硼磁铁。

4.根据权利要求1或3所述的一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,其特征在于:所述强磁铁为直径10mm,厚度2mm的圆形薄片。

5.根据权利要求1所述的一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,其特征在于:所述步骤(1)中对BOPP薄膜进行超声清洗时,采用大功率240-320W超声3-5次,每次超声5-

10min。

6.根据权利要求1所述的一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,其特征在于:所述步骤(2)、(3)中选择表面平坦的目标区域范围为(1-5μm)×(1-5μm)。