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专利号: 201510068018X
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种窄脉宽激光微峰值功率密度测试仪控制系统,其特征在于,包括:波长设置模块(101),用于根据所用探测器的类型设置波长,波长设置范围为

400-1100nm和800-1700nm,设置最小分辨率为0.1nm;

响应度显示模块(102),用于根据权利机构校准的探测器组件的归一化响应度曲线,通过查表,显示与激光波长相对应的归一化响应度;

波形显示模块(103),用于显示经远距离传输和目标漫反射的ns级脉冲宽度和峰值功2

率密度在μW/cm量级的窄脉冲弱激光信号,打到光电探测器组件上,经光电转换和放大后的波形图;

峰值功率密度计算模块(104),用于根据波形显示(103)中的幅值信息和探测器组件的归一化响应度,结合探测器光敏面的尺寸,进行峰值功率密度计算;

峰值功率密度显示模块(105),用于显示峰值功率密度计算模块(104)的计算结果;

脉冲宽度计算模块(106),用于根据波形显示(103)中的幅值信息和脉冲宽度信息,采用半高全宽法,进行脉冲宽度计算;

脉冲宽度显示模块(107),是根据探测器组件光电转换的电信号信息,实现所测激光脉冲波形的显示;

辅助功能模块(108),用于测量方式选择、自动设置、运行暂停、大小信号切换、匹配电阻切换、存储控制、电压和时间设置和端口设置。