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专利号: 2015102182386
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种弯月透镜的透射波前检测装置,其特征在于:包括沿光路依次设置的干涉仪(1)、计算全息图(3)、被测弯月透镜(4)和球面反射镜(5);所述干涉仪(1)的出光端设置有标准镜头(2);

所述的干涉仪(1)固定在第1五维调整架(6)上,所述的计算全息图(3)固定在第2五维调整架(7)上,所述的被测弯月透镜(4)固定在第3五维调整架(8)上,所述的球面反射镜(5)固定在第4五维调整架(9)上。

2.根据权利要求1所述的弯月透镜的透射波前检测装置,其特征在于:所述的计算全息图(3)与第2五维调整架(7)组成的整体一起固定于第1五维调整架(6)上。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的弯月透镜的透射波前检测装置,其特征在于:所述的标准镜头(2)为球面标准镜头,根据被测弯月透镜(5)和计算全息图(3)的不同,选择不同的F数,F数为标准镜头相对孔径的倒数。

4.根据权利要求3所述的弯月透镜的透射波前检测装置,其特征在于:所述球面反射镜(5)的口径和曲率半径根据弯月透镜(4)的参数对应选择。

5.一种弯月透镜的透射波前检测方法,其特征在于:包括以下步骤:一、获取球面反射镜测量总体误差W2:

依次包括下述两个步骤,

步骤1.根据被测弯月透镜(4)的参数和所选球面反射镜(5)的参数,设计一块相应的计算全息图(3),该计算全息图(3)包括用于干涉仪与全息片对准的反射全息和用于形成会聚焦点的透射全息两个部分;

步骤2.利用干涉仪(1)直接检测球面反射镜(5)的面形:第1五维调整架(6)保持不动,调整第4五维调整架(9),使得干涉仪(1)与球面反射镜(5)处于对准位置,利用干涉仪(1)对球面反射镜(5)的面形误差进行测量,此时检测得到的误差W2包括球面反射镜(5)误差Wsphere和参考镜误差Wreference;

二、获取弯月透镜测量总体误差W1:

依次包括下述两个步骤,

步骤1.保持第1五维调整架(6)和第4五维调整架(9)不动,将固定有计算全息图(3)的第2五维调整架(7)放置于第1五维调整架(6)上,调整第2五维调整架(7),利用计算全息图(3)的反射衍射形成的干涉条纹,使得干涉仪(1)和计算全息图(3)处于对准位置;

步骤2.将固定有被测弯月透镜(4)的第3五维调整架(8)放置到检测光路中,保持其他光学元件不动,只调节第3五维调整架(8)和第1五维调整架(6),使得整个检测系统处于对准位置,利用干涉仪(1)对整个系统的误差进行测量,得到总体误差W1,该误差包括参考镜误差Wreference、计算全息图误差WCGH、弯月透镜误差Wmeniscus和球面反射镜误差Wsphere;

三、处理数据,

当利用干涉仪(1)对整个检测系统进行测量时,其误差包括参考镜误差Wreference、计算全息图误差WCGH、弯月透镜误差Wmeniscus和球面反射镜误差Wsphere,即:W1=Wreference+WCGH+Wmeniscus+Wsphere (1)相对于弯月透镜和球面反射镜来说,计算全息图误差WCGH为小量,在此可以忽略,故上述公式(1)可以简化为:W1=Wreference+Wmeniscus+Wsphere (2)当利用干涉仪(1)直接对球面反射镜进行检测时,其检测误差包括参考镜误差Wreference和球面反射镜误差Wsphere,W2=Wreference+Wsphere (3)

然后利用两次检测结果相减,就可以得到弯月透镜的透射波前误差Wmeniscus,Wmeniscus=W1-W2 (4)。