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专利号: 2015102294682
申请人: 中北大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于宏弯损耗效应的光纤位移传感器,其特征在于:包括两根光纤,其中一根为传光光纤(1),另一根为接收光纤(2),所述传光光纤(1)始端连接LED光源、终端连接光功率计P1,所述接收光纤(2)始端用黑色盖帽密封固定、终端连接光功率计P2;

所述传光光纤(1)和接收光纤(2)通过双绞后形成宏弯辐射耦合结构(100);所述双绞宏弯辐射耦合结构(100)的始端固定,为固定端(101);终端移动,为移动端(102);

所述宏弯辐射耦合结构(100)的圆周部分的弯曲半径等于阈值,所述阈值为当入射光(10)在传光光纤(1)的纤芯(3)-包层(4)界面上的入射角θ等于全内反射角θc时所对-1 cl应的弯曲半径,即设纤芯(3)的折射率为nco,包层(4)的折射率为ncl,那么θc=sin (n /nco)。

2.根据权利要求1所述的基于宏弯损耗效应的光纤位移传感器,其特征在于:所述宏弯辐射耦合结构(100)置于黑色套管内。

3.根据权利要求1或2所述的基于宏弯损耗效应的光纤位移传感器,其特征在于:

还包括固定板(200),所述固定板(200)上形成一圆形腔(201),所述固定板(200)上沿圆形腔(201)的任一切线设有一切线槽,所述切线槽以切点为界,位于切点左侧为固定槽(202),位于切点右侧为移动槽(203);所述移动槽(203)内安装有移动杆(204);所述宏弯辐射耦合结构(100)的圆周部分正好置于固定板(200)的圆形腔(201)内,所述宏弯辐射耦合结构(100)的固定端(101)通过硅胶粘贴于固定槽(202)内,其移动端(102)位于移动槽(203)内并通过硅胶粘贴于移动杆(204)的一端。

4.根据权利要求3所述的基于宏弯损耗效应的光纤位移传感器,其特征在于:所述传光光纤(1)和接收光纤(2)均采用塑料光纤。