1.一种不易接触物体体积测量仪，其特征在于：包括一密封箱体（9），所述的密封箱体（9）下方设有测量仪控制系统，在密封箱体（9）内部设有图像采集器，与图像采集器相对的位置设有旋转台机构；所述的图像采集器分为上下两部分，图像采集器上半部分包括固定板Ⅰ（10），固定板Ⅰ（10）上设有机架（13），机架（13）上安装有减速机构（1）、激光器（3）和激光器控制电机（4），所述的机架（13）为设置在固定板Ⅰ（10）上的两块立板，两块立板通过多个螺栓固定；所述的减速机构（1）采用齿轮组进行减速，其减速比为1:20；所述的激光器控制电机（4）的输出端连接减速机构（1）的输入端，所述的激光器（3）上设有旋转轴，旋转轴连接减速机构（1）的输出端；

图像采集器下半部分包括固定板Ⅱ（11），固定板Ⅱ（11）上设有活动支架（5），所述的活动支架（5）能够调节摄像头（2）的高度、仰角和水平方向；活动支架（5）上活动连接一摄像头（2），所述的摄像头（2）连接计算机；所述的固定板Ⅰ（10）和固定板Ⅱ（11）通过多个支撑柱（12）连接固定；所述的旋转台机构包括旋转台（6），旋转台（6）下方连接一旋转台控制电机（7）；所述的测量仪控制系统包括微处理器，微处理器分别连接激光器控制电机驱动芯片（15）、旋转台控制电机驱动芯片（15）和摄像头。

2.根据权利要求1所述的不易接触物体体积测量仪，其特征在于：所述的旋转台控制电机安装在固定台（14）上，所述的固定台（14）通过多个螺栓固定在密封箱体（9）上。

3.根据权利要求1所述的不易接触物体体积测量仪，其特征在于：所述的密封箱体（9）上设有2个控制按键（8），分别控制激光器控制电机和旋转台控制电机旋转。

4.根据权利要求1所述的不易接触物体体积测量仪，其特征在于：所述的测量仪控制系统的微处理器采用STC89C51单片机，激光器控制电机驱动芯片（15）采用2片L9110芯片，旋转台控制电机驱动芯片（15）采用ULN2003N芯片。

5.根据权利要求1所述的不易接触物体体积测量仪，其特征在于：所述的密封箱体（9）配有上盖，密封箱体（9）及其上盖均采用不透明的木质材料，内部涂有不反光的黑色涂层。