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专利号: 2015102444444
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置,其特征在于,装置本体(100)包括装有滤光片(102)的滤光片转轮(101),控制滤光片转轮(101)转角的第一步进电机(103)和第一绝对式光电编码器(104),包含有检波器(106)和1/4波片(107)的检波组件镜筒(105),控制检波组件镜筒(105)转角的空心传动轴(108)和第二绝对式光电编码器(110),光电探测器组件(111),探测器放大倍率控制器(112),包含第二步进电机(103)、第一绝对式光电编码器(104)、空心传动轴(108)、齿轮传动机构(109)和第二绝对式光电编码器(110)伺服控制组件(113),以及包含采集控制软件的计算机(114);滤光片转轮(101)为6孔圆盘,5个孔分别放置5种宽带带通的滤光片(102),滤光片(102)的波段范围分别是15-485nm,480-550nm、545-615nm、595-675nm和655-735nm,另一孔为空;伺服控制组件(113)与计算机(114)相连;检波器(106)的透光轴与1/4波片(107)的快轴成45°,检波器(106)的波长范围为250-3500nm,1/4波片(107)为两片交替使用,波长范围分别为

460-650nm和650-1000nm;光电探测器组件(111)包括聚焦光学系统,Si基PIN光电探测器、前置放大器和电压跟随器,聚焦光学系统,Si基PIN光电探测器、前置放大器和电压跟随器依次相连。

2.根据权利要求1所述的一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置,其特征在于,所述的滤光片转轮(101)的旋转角度控制精度为1°。

3.根据权利要求1所述的一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置,其特征在于,所述的检波组件镜筒(105)的旋转角度控制精度为0.5°。

4.根据权利要求1所述的一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置,其特征在于,所述的探测器放大倍率控制器(112)为分档放大器,档位控制分别为5dB、10dB、15dB和

20dB,同时设有有串口或USB口等供数据采集的计算机接口。

5.根据权利要求1所述的一种用于目标散射和反射偏振态研究的测量装置,其特征在于,所述的计算机(114)具有波段选择,检波组件角度控制,数据采集控制,偏振度计算控制和偏振图显示功能。