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专利号: 2015102470788
申请人: 南京邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-05-15
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于单模光纤的光学任意波形测量装置,其特征在于该装置包括待测光学任意波形输入端(1)、参考脉冲输入端(2)、第一偏振控制器(3)、第二偏振控制器(4)、耦合器(5)、单模光纤(6)、偏振分束器(7)、电荷耦合元件(8)和光谱仪(9);其中,任意波形输入端(1)通过第一偏振控制器(3)接耦合器(5)的一个输入端,参考脉冲输入端(2)通过第二偏振控制器(4)接耦合器(5)的另一个输入端,耦合器(5)的输出端接单模光纤(6)的输入端,单模光纤(6)的输出端接偏振分束器(7)的输入端,偏振分束器(7)的输出端接电荷耦合元件(8)的输入端,电荷耦合元件(8)的输触端接光谱仪(9)的输入端。

2.根据权利要求1所述的基于单模光纤的光学任意波形测量装置,其特征在于所述的第一偏振控制器(3)与第二偏振控制器(4)控制的角度差为90°。

3.根据权利要求1所述的基于单模光纤的光学任意波形测量装置,其特征在于所述的单模光纤(6)包括单模光纤前一部分(61)和单模光纤后一部分(62),单模光纤前一部分(61)在外加应力的作用下产生可变延迟,单模光纤后一部分(62)作为非线性介质发生交叉相位调制效应。

4.根据权利要求2所述的基于单模光纤的光学任意波形测量装置,其特征在于所述的待测光学任意波形(1)和参考脉冲(2)经单模光纤前一部分(61)传输后产生可变延迟。

5.根据权利要求2所述的基于单模光纤的光学任意波形测量装置,其特征在于所述的待测光学任意波形输入端(1)输入的待测光学任意波形与参考脉冲输入端(2)输入的参考脉冲在单模光纤后一部分(62)中发生交叉相位调制效应,使得产生的信号脉冲携带了待测光学任意波形的信息,利用电荷耦合元件(8)和光谱仪(9)记录下信号脉冲的行迹图。

6.根据权利要求1所述的基于单模光纤的光学任意波形测量装置,其特征在于所述的电荷耦合元件(8)和光谱仪(9)记录下的行迹图通过基于矩阵的主元素广义投影算法进行二维相位恢复,从而实现光学任意波形幅度和相位的测量。