1.一种测试电子设备启动性能的方法，其特征在于，所述方法包括：启动继电器以控制电子设备启动；

检测所述电子设备发送的启动消息；

响应于在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；

基于获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测所述电子设备发送的启动消息包括：通过调试工具检测所述启动消息；

所述启动消息包括所述电子设备启动后最先生成的消息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述调试工具包括adb调试桥。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述检测所述电子设备发送的启动消息之后，所述方法还包括：响应于在所述预定时间段内检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动成功一次；

响应于在所述预定时间段内未检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动失败一次。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述检测所述电子设备发送的启动消息之后，所述方法还包括：基于所述启动消息确定是否满足预定条件；

响应于确定满足所述预定条件，关闭继电器以控制所述电子设备关闭；

其中，所述预定条件包括以下任一项：在所述预定时间段内检测到所述启动消息、超过所述预定时间段且未检测到所述启动消息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述关闭继电器以控制所述电子设备关闭之后，所述方法还包括：确定是否达到预定测试次数；

响应于确定未达到所述预定测试次数，启动所述继电器以再次对所述电子设备的启动性能进行测试。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述电子设备包括机顶盒。

8.一种测试电子设备启动性能的装置，其特征在于，所述装置包括：启动单元，配置用于启动继电器以控制电子设备启动；

检测单元，配置用于检测所述电子设备发送的启动消息；

获取单元，配置用于响应于所述检测单元在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；

测试单元，配置用于基于所述获取单元获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述检测单元按如下检测所述电子设备发送的启动消息：通过调试工具检测所述启动消息；

所述启动消息包括所述电子设备启动后最先生成的消息。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述调试工具包括adb调试桥。

11.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：记录单元，配置用于在所述检测单元检测所述电子设备发送的启动消息之后，响应于在所述预定时间段内检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动成功一次；响应于在所述预定时间段内未检测到所述启动消息，记录所述电子设备启动失败一次。

12.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：关闭条件确定单元，配置用于在所述检测所述电子设备发送的启动消息之后，基于所述启动消息确定是否满足预定条件；

关闭单元，配置用于响应于所述关闭条件确定单元确定满足所述预定条件，关闭继电器以控制所述电子设备关闭；

其中，所述预定条件包括以下任一项：在所述预定时间段内检测到所述启动消息、超过所述预定时间段且未检测到所述启动消息。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：测试次数确定单元，配置用于在所述关闭单元关闭继电器以控制所述电子设备关闭之后，确定是否达到预定测试次数；

所述启动单元，还配置用于响应于所述测试次数确定单元确定未达到所述预定测试次数，启动所述继电器以再次对所述电子设备的启动性能进行测试。

14.根据权利要求8至13中任一项所述的装置，其特征在于，所述电子设备包括机顶盒。

15.一种测试电子设备启动性能的系统，包括：测试设备、继电器以及电子设备；所述测试设备与所述继电器连接；所述继电器控制所述电子设备启动；

其中，所述测试设备，配置用于启动所述继电器以控制所述电子设备启动；检测所述电子设备发送的启动消息；响应于在预定时间段内检测到所述启动消息，根据所述启动消息获取所述电子设备的启动时间；基于获取的启动时间测试所述电子设备的启动性能；

所述继电器，配置用于响应于所述继电器启动，控制所述电子设备启动；

所述电子设备，配置用于响应于所述电子设备启动，生成并向所述测试设备发送所述启动消息。