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专利号: 2015104649650
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种阴影莫尔轮廓测量装置,其特征在于:所述的测量装置包括红、绿、蓝三个线光源(1)、一个彩色CCD摄像机(2)、一个光栅(3)和一个精密位移平台;所述的红、绿、蓝三个线光源(1)和彩色CCD摄像机(2)共线的设置于光栅(3)一侧且与光栅面平行;所述的光栅(3)设置在精密位移平台上;所述的红、绿、蓝三个线光源(1)布置于彩色CCD摄像机(2)一侧。

2.根据权利要求1所述的阴影莫尔轮廓测量装置,其特征在于:所述的精密位移平台为手动精密位移台或电动精密位移台。

3.根据权利要求1所述的阴影莫尔轮廓测量装置,其特征在于:所述的红、绿、蓝三个线光源(1)等间隔布置于彩色CCD摄像机(2)一侧。

4.如权利要求1所述的一种阴影莫尔轮廓测量装置的标定方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一,将被测物体(4)置于光栅(3)下方,开启红、绿、蓝三个线光源(1)中任一个单色光源,通过精密位移平台等距离移动光栅(3)若干次,拍摄和记录其中的相移条纹图;

步骤二,使用相移提取算法确定由于移动光栅(3)产生的相移。

5.如权利要求1所述的一种阴影莫尔轮廓测量装置的测量方法,其特征在于:依次包括以下步骤:步骤一,将光栅(3)调整至初始位置,被测物体(4)置于光栅(3)下方,同时打开红、绿、蓝三个线光源(1),在被测物体表面产生复色莫尔条纹,然后彩色CCD摄像机(2)在单次拍摄条件下摄取复色莫尔条纹;

步骤二,把摄取的复色莫尔条纹分离形成单色莫尔条纹,得到用于解调被测物体(4)表面形貌的相移莫尔条纹图;

步骤三,将步骤二所得的数据正则化处理,然后运用主量分析法提取测量相位;

步骤四,运用去包裹方法对步骤三提取的测量相位进行相位展开;

步骤五,根据测量灵敏度和展开的相位,进行相位高度映射,完成测量。