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专利号: 2015104650906
申请人: 长安大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,计算陀螺方位角先验值;

步骤2,分别采集不同架设方位下的第一和第二精寻平衡位置的转子电流数据,根据采集的数据建立转子电流值和架设陀螺方位角的回归方程组;

步骤3:将陀螺方位角先验值作为陀螺寻北方位角代入转子电流值和架设陀螺方位角的回归方程组,计算陀螺寻北采样数据预测值;

步骤4,在一个架设方位下采集两个精寻位置的转子电流数据,并计算估计误差;

步骤5,分别计算当前架设方位下的双位置转子电流值回归预测区间:步骤6,使用步骤5得到的双位置转子电流值回归预测区间,剔除处于回归预测区间外的转子电流数据;

步骤7,根据步骤6剔除粗差后的转子电流数据,由下式计算修正后的陀螺定向结果。

2.如权利要求1所述的基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,所述步骤1的具体操作如下:在测站点安置陀螺全站仪,并照准目标测线方向,根据全站仪读数Z全、测线的坐标方位角α坐、测站点子午线收敛角γ和仪器常数Δ仪,计算陀螺寻北方位角先验值T先=α坐-Δ仪-Z全+γ。

3.如权利要求1所述的基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,所述步骤2的具体操作如下:在陀螺架设方位位于真北方向(-10°,+10°)区间内,选取20~100个不同架设方位,在每个架设方位下的第一和第二精寻位置分别采集n个转子电流数据I1和I2,计算每个架设方位条件下第一精寻位置的转子电流数据的算术平均值 和第二精寻位置的转子电流数据的算术平均值 n为转子电流数据的采样个数;

将架设陀螺方位角T作为自变量,将两个精寻位置采样电流算术平均值 和 分别作为因变量,分别线性拟合出两条直线,根据直线求解转子电流值和架设陀螺方位角的回归 方程组的参数a、b、c、d,建立转子电流值和架设陀螺方位角的回归方程组:其中,T为架设陀螺方位角。

4.如权利要求1所述的基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,所述步骤4具体如下:步骤41,在陀螺架设方位位于真北方向(-10°,+10°)区间内,任意选取一个架设方位,在当前架设方位下第一和第二精寻平衡位置分别采集n个转子电流数据I1和I2;

步骤42,分别计算两个精寻北平衡位置的陀螺寻北采样数据预测值的标准差估计量Sind1和Sind2:其中:

其中,I1i、I2i分别为第一、第二精寻北平衡位置采集的第i个转子电流值,i取1~n;

T1i、T2i分别为对应第一、第二精寻北平衡位置采集的第i个转子电流值计算得到的陀螺寻北方位角;OR-OT1为北向标识方向OR与第一精寻北平衡位置OT1之间的夹角,k为常值系数,取300~400;IS1、IS2分别为第一、第二精寻北平衡位置的定子电流值;H为陀螺角 动量;ωe为地球自转角速度; 为测站点纬度;

步骤43,计算双位置转子电流值的估计误差E1、E2:

其中, 为置信水平为1-α下的t分位数。

5.如权利要求4所述的基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,所述步骤5中所述的双位置转子电流值回归预测区间如下:

6.如权利要求1所述的基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,所述步骤6的操作如下:以步骤5得到的当前架设方位下的双位置转子电流值回归预测区间作为粗差的判别标准,对当前架设方位下的第一和第二精寻平衡位置采集到的所有转子电流数据分别进行判别,保留落入回归预测区间内的转子电流数据,剔除回归预测区间外的转子电流数据。

7.如权利要求1所述的基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,所述步骤7中,根据步骤6剔除粗差后的转子电流数据,由下式计算修正后的陀螺定向结果:其中,M′OT1,M′OT2分别为剔除位置粗差后的所计算得到的两个精寻平衡位置的平衡力矩,OT1、OT2方向为第一、第二陀螺马达轴精寻北平衡位置;OR-OT1为北向标识方向OR与第一精寻北平衡位置OT1之间的夹角;H为陀螺角动量;ωe为地球自转角速度; 为测站点纬度。

8.如权利要求1所述的基于双位置特征的磁悬浮陀螺寻北数据粗差剔除方法,其特征在于,通过所述步骤7得到的陀螺定向结果计算陀螺坐标方位角如下:α坐(修)=Z全+T修+Δ仪-γ。