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专利号: 2015104920178
申请人: 武汉纺织大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种物体表面的三维测量装置,其特征在于:所述装置由透明坐标柱(1)、载物盘(4)、伸缩支架(5)、轴(6)、底座(7)、标尺支架(8)、标尺(9)组成,透明坐标柱(1)呈中空圆柱状,底座(7)上设置有轴(6),透明坐标柱(1)底部与轴(6)活动连接,标尺支架(8)垂直位于透明坐标柱(1)外侧,标尺支架(8)下部活动连接在轴(6)上,透明坐标柱(1)内设置有伸缩支架(5),伸缩支架(5)的下端固定在轴(6)的上端,伸缩支架(5)上端固定设置有载物盘(4),透明坐标柱(1)的壁面上对称开有两对以上相互平行的水平通槽(2),透明坐标柱(1)的壁面上设置有可开启的门(3),标尺支架(8)开有与水平通槽(2)相对应的定位孔,标尺(9)活动地置于水平通槽(2)与定位孔上。

2.如权利要求1所述的一种物体表面的三维测量装置,其特征在于:所述定位孔直径与水平通槽(2)的宽度一致。

3.如权利要求1所述的一种物体表面的三维测量装置,其特征在于:在每个水平通槽(2)槽口处设置有水平刻度。

4.如权利要求1所述的一种物体表面的三维测量装置,其特征在于:在透明坐标柱(1)的外壁面上设置有垂直刻度。

5.如权利要求1所述的一种物体表面的三维测量装置,其特征在于:在载物盘(4)的上表面设置有分度刻度。