1.一种平面机构二维运动规律测试装置，其特征在于，包括原向反射屏(1)、激光光幕(2)、高速成像系统(3)、光学镜头(4)、激光模组(5)、工业计算机(8)和图像采集卡(6)，光学镜头(4)安装在高速成像系统(3)的接口匹配的端面，在光学镜头(4)正上方固定有激光模组(5)，激光模组(5)前安装有柱面透镜(7)，平面机构上贴有原向反射屏(1)，用于原向反射激光，并随待测机构做同步运动，高速成像系统(3)通过外触发方式控制，并通过数据传输线路与工业计算机(8)相连，工业计算机(8)内安装有处理软件和图像采集卡(6)，所述激光模组(5)采用均匀一字线形半导体激光模组，高速成像系统(3)包括图像传感和图像控制两部分，图像传感部分采用高速面阵CMOS图像传感器，所述原向反射屏(1)表面为折射率等于

2的玻璃微珠；

所述柱面透镜(7)采用柱面平凸透镜；

所述激光模组(5)采用均匀光强，发散角为45°的一字线半导体激光模组，柱面透镜(7)置于激光模组(5)出光孔径的正前方，形成矩形光幕照明范围覆盖机构行程；

原向反射屏(1)处于平面机构的运动平面，在自然照明环境可将原向反射屏(1)看作新的光源，保证高速成像系统(3)的灵敏度；

系统工作时先将标准目标置于待测机构所在平面，对于量程内的两个固定点完成测试，得到比例系数k，比例系数k可以表示为S/n1，其中S为标准目标两个固定点的实际长度，n1为标准目标两个固定点的实际长度在图像传感器上所成像占用的像素个数， 实际测试时可预测下一幅图像像点可能的范围，缩小处理区域，提高处理速度。