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专利号: 2015107478752
申请人: 衡阳师范学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种采用固体核径迹探测器识别不同能量高能粒子的方法,其特征是:利用不同能量高能粒子在固体核径迹探测器内部的射程不同,通过多次蚀刻后的读数计算得到不同能量高能粒子的数量。

2.如权利要求1所述的一种采用固体核径迹探测器识别不同能量高能粒子的方法,其特征是:它包括蚀刻过程和计算过程,其具体操作步骤如下:一、蚀刻过程:

将n种能量高能粒子放在固体核径迹探测器上照射,Ri为第i种能量高能粒子的射程,然后将经过n种能量高能粒子照射后的固体核径迹探测器放入蚀刻溶液中进行n次蚀刻,在光学显微镜下读取径迹密度,每次蚀刻的温度、蚀刻溶液配方、蚀刻时间这几个参数相同,或者是根据要区分的高能粒子种类及能量不同而改变,n大于1;

二、计算过程:

设Ci是第i种能量的高能粒子的数量,第j次蚀刻后的光学显微镜的读数为Nj,ηij是固体核径迹探测器第j次蚀刻后的对第i种能量的高能粒子的探测效率,建立如下方程: (1)

将相关参数带入,对式(1)表示的n个方程联立求解就能够得到每种能量的高能粒子的数量Ci。

3.如权利要求1所述的一种采用固体核径迹探测器识别不同能量高能粒子的方法,其特征是:它包括蚀刻过程和计算过程,其具体操作步骤如下:一、蚀刻过程:

将n种能量高能粒子放在固体核径迹探测器上照射,Ri为第i种能量高能粒子的射程,然后将经过n种能量高能粒子照射后的固体核径迹探测器放入蚀刻溶液中进行m次蚀刻,在光学显微镜下读取径迹密度,每次蚀刻的温度、蚀刻溶液配方、蚀刻时间这几个参数相同,或者是根据要区分的高能粒子种类及能量不同而改变,n大于1,m大于n;

二、计算过程:

设Ci是第i种能量的高能粒子的数量,第j次蚀刻后的光学显微镜的读数为Nj,ηij是固体核径迹探测器第j次蚀刻后的对第i种能量的高能粒子的探测效率,定义优值函数建立如下方程: (2)

对式(2)求最小值,就可以解得每种能量的高能粒子的数量Ci。