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专利号: 201510805209X
申请人: 衡阳师范学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种单片CR-39两次蚀刻法同步测量222Rn、220Rn浓度的方法,其特征是:对单片CR-39树脂片进行两次蚀刻,利用两次的读数来同步得到222Rn、220Rn浓度,其具体操作步骤如下:A、蚀刻及读数过程:

将CR-39安装在一个小盒中,组成一个CR-39固体径迹探测器,小盒为一个带盖的密封容器,小盒上设有一个带滤膜的滤膜框,小盒的外壳能隔绝环境中的222Rn和220Rn的子体进入小盒,空气中的222Rn和220Rn只能从滤膜框上的滤膜进入小盒,使CR-39受到进入小盒内空气中222Rn和220Rn衰变链上发射的不同能量高能α粒子的照射;

222 220

将CR-39固体径迹探测器放在环境空气中,时间为T1,测量空气中 Rn和 Rn浓度;

测量结束后将CR-39从CR-39固体径迹探测器中取出,放入蚀刻液中进行第一次蚀刻,在显微镜下读取径迹数N1,然后再将CR-39放入蚀刻液中进行第二次蚀刻,在显微镜下读取径迹数N2;

B、计算过程:

两次蚀刻的读数都包含了222Rn和220Rn衰变链的贡献,能够得到:       (1)

       (2)

222 220

N1222、N1220表示第一次蚀刻后分别来自 Rn和 Rn衰变链所形成的径迹数; N2222、N2220表示第二次蚀刻后分别来自222Rn和220Rn衰变链所形成的径迹数;

对探测效率刻度:

在CR-39固体径迹探测器放入没有经过照射的CR-39,然后将CR-39固体径迹探测器放

222

入浓度为C1标准 Rn室,经过10天以上长时间T2的照射后,取出CR-39,放入蚀刻液中进行第一次蚀刻,在显微镜下读取径迹数 ,然后再将CR-39放入蚀刻液中进行第二次蚀刻,在显微镜下读取径迹数 ;

两次蚀刻的读数包含了222Rn衰变链的贡献,能够得到:      (3)

      (4)

在CR-39固体径迹探测器放入没有经过照射的CR-39,然后将CR-39固体径迹探测器放入浓度为C2标准220Rn室,经过10天以上长时间T2的照射后,取出CR-39,放入蚀刻液中进行第一次蚀刻,在显微镜下读取径迹数 ,然后再将CR-39放入蚀刻液中进行第二次蚀刻,在显微镜下读取径迹数 ;

两次蚀刻的读数包含了220Rn衰变链的贡献,能够得到:        (5)

        (6)

由式(3)、(4)、(5)、(6)解得A1、A2、B1、B2;

A1表示第一蚀刻后对222Rn 的探测效率,A2表示第二次蚀刻后对222Rn 的探测效率,B1表示第一次蚀刻后对220Rn 的探测效率,B2表示第二次蚀刻后对220Rn 的探测效率;

因此能将式(1),(2)改写为:

     (7)

     (8)

式中 、 是环境中222Rn和220Rn的浓度;

根据式(7)、(8)联立求解就能够得到环境中222Rn和220Rn的浓度。

2.如权利要求1所述的一种单片CR-39两次蚀刻法同步测量222Rn、220Rn浓度的方法,其特征是:为得到最佳的蚀刻效果,两次蚀刻的蚀刻液配方,温度,蚀刻时间这几个参数都相同。

3.如权利要求1所述的一种单片CR-39两次蚀刻法同步测量222Rn、220Rn浓度的方法,其特征是:两次蚀刻的蚀刻液配方,温度,蚀刻时间这几个参数都不相同。