1.一种光电综合实验平台，其特征在于,包括置于机箱内的光学单元(1)和电子学单元(2)，光学单元(1)的光源模块(11)、光电传感器模块(13)和电子学单元(2)的光参数测量单元(25)通过快换接口固定在框架上；光路选择组件(12)放置在装有磁铁的安装座中，安装座通过磁力吸附在机箱的底板上；

所述的光学单元(1)包括光源模块(11)、光路选择组件(12)、光电传感器模块(13)；

所述的光源模块(11)提供激光光源、可见光光源或积分球单色光源；

所述的光路选择组件(12)的单反五棱镜单独或两个级联，旋转安装座，光路选择组件(12)与光源模块（11）和光电传感器模块（13）搭建不同的新的光路；

所述的光电传感器模块(13)包括多个光敏电阻、多个光敏二极管或多个光电池，均使用快换接口与框架连接；

所述的电子学单元（2）包括五路电源（21）、嵌入式处理器（22）、可变恒流源（23）、电参数测量单元（24）、光参数测量单元（25）、下位机主控单元（26）、液晶显示单元（27）和电源（28）；所述的嵌入式处理器（22）为上位机；

所述的五路电源（21）为提供数字5V、模拟±5V、模拟±12V的电源，与可变恒流源（23）、电参数测量单元（24）、光参数测量单元（25）、下位机主控单元（26）连接；

嵌入式处理器（22）安装有操作程序软件，采用串口与下位机主控单元（26）通信，在嵌入式处理器（22）的管理下，下位机主控单元（26）通过两线串行接口控制可变恒流源（23）做为光源模块（11）的激励输入，改变光源模块（11）输入的电流值或电压值，则改变光源模块（11）输出的光照度值和光功率值；

下位机主控单元（26）通过两线串行接口控制电参数测量单元（24）进行模拟电压量和电流量的测量，测量结果经两线串行接口传输给下位机主控单元（26），下位机主控单元（26）再经串口将测量结果送给嵌入式处理器（22），由液晶显示单元（27）显示测量的电压值和电流值；

下位机主控单元（26）通过两线串行接口控制光参数测量单元（25）进行光照度、光功率和光的波长测量；测量结果经两线串行接口传输给下位机主控单元（26），下位机主控单元（26）再经串口将测量结果送给嵌入式处理器（22），由液晶显示单元（27）显示测量的光照度、光功率值和光的波长值；所述的下位机主控单元（26）存储有下位机的运行程序；

所述的电源（28）为嵌入式处理器（22）和液晶显示单元（27）提供电源。