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专利号: 2015108827820
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,包括基底,其特征在于:所述金属应变片还包括五个敏感栅,每个敏感栅的两端分别连接一根引脚,所述基底上固定所述五个敏感栅;

每一敏感栅包括敏感段和过渡段,所述敏感段的两端为过渡段,所述敏感段呈细长条形,所述过渡段呈粗短形,所述敏感段的电阻远大于所述过渡段的电阻,相同应变状态下所述敏感段的电阻变化值远大于所述过渡段的电阻变化值,所述过渡段的电阻变化值接近于

0;

每个敏感段的所有横截面形心构成敏感段轴线,该敏感段轴线为一条直线段,所述五个敏感栅中各敏感段的轴线平行并且位于同一平面中,敏感段轴线所确定平面内,沿所述敏感段轴线方向即轴向,与轴向垂直的方向为横向;每个敏感段上存在其两侧电阻值相等的一个横截面,取该截面形心位置并以该敏感段电阻值为名义质量构成所在敏感段的名义质点,各个敏感段的名义质点共同形成的质心位置为敏感栅的中心;

五个敏感栅中心之间在横向上无偏差,在轴向上部分存在偏差;五个敏感栅按敏感栅中心位置的顺序,沿轴向从左至右,首先左三敏感栅和左一敏感栅,然后是中敏感栅,最后是右一敏感栅和右三敏感栅;左三敏感栅中心与左一敏感栅中心之间距离为0,左三敏感栅中心与中敏感栅中心的距离为Δx1,中敏感栅中心与右三敏感栅中心的距离为Δx2,Δx1=Δx2,右三敏感栅中心与右一敏感栅中心之间距离为0;

各敏感段轴线所确定平面上,左边左三敏感栅与左一敏感栅之间呈叉指布置,右边右三敏感栅与右一敏感栅之间呈叉指布置;

左三敏感栅、左一敏感栅、中敏感栅、右一敏感栅和右三敏感栅的敏感段总电阻呈3:1:

4:1:3的比例关系,左三敏感栅、左一敏感栅、中敏感栅、右一敏感栅和右三敏感栅的敏感段在相同的应变下敏感段的总电阻变化值也呈3:1:4:1:3的比例关系。

2.如权利要求1所述的可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:每个敏感段的所有横截面形状尺寸一致,取每个敏感段的轴线中点位置并以该敏感段电阻值为名义质量构成所在敏感段的名义质点,所述左三敏感栅、左一敏感栅、中敏感栅、右一敏感栅和右三敏感栅的敏感段总长度呈3:1:4:1:3的比例关系。

3.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述左三敏感栅的两个引脚均位于该敏感栅的右侧,所述右三敏感栅的两个引脚均位于该敏感栅的左侧。

4.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:相对中敏感栅,右三敏感栅和左三敏感栅的敏感段轴向长度可较短而横向分布可较密。

5.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述金属应变片还包括盖片,所述盖片覆盖于所述敏感栅和基底上。

6.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述敏感栅为丝式、箔式、薄膜式或厚膜式敏感栅。

7.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述基底为胶膜基底、玻璃纤维基底、石棉基底、金属基底或临时基底。

8.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅中心轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述五个敏感栅左、中、右布置在基底上。