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专利号: 2015108834487
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种可测量双侧偏置敏感栅外侧横向偏导的横向分布五敏感栅边叉指金属应变片,包括基底,其特征在于:所述金属应变片还包括五个敏感栅,每个敏感栅的两端分别连接一根引脚,所述基底上固定所述五个敏感栅;

每一敏感栅包括敏感段和过渡段,所述敏感段的两端为过渡段,所述敏感段呈细长条形,所述过渡段呈粗短形,所述敏感段的电阻远大于所述过渡段的电阻,相同应变状态下所述敏感段的电阻变化值远大于所述过渡段的电阻变化值,所述过渡段的电阻变化值接近于

0;

每个敏感段的所有横截面形心构成敏感段轴线,该敏感段轴线为一条直线段,所述五个敏感栅中各敏感段的轴线平行并且位于同一平面中,敏感段轴线所确定平面内,沿所述敏感段轴线方向即轴向,与轴向垂直的方向为横向;每个敏感段上存在其两侧电阻值相等的一个横截面,取该截面形心位置并以该敏感段电阻值为名义质量构成所在敏感段的名义质点,各个敏感段的名义质点共同形成的质心位置为敏感栅的中心;

五个敏感栅中心在轴向上无偏差,在横向上部分存在有偏差;各敏感栅按敏感栅中心位置的顺序,沿横向从上至下,首先为上五敏感栅和上三敏感栅,然后是中敏感栅,最后是下三敏感栅和下五敏感栅;上五敏感栅中心与上三敏感栅中心的距离为0,上五敏感栅中心与中敏感栅中心的距离为Δy1,中敏感栅中心与下五敏感栅中心的距离为Δy1,下五敏感栅中心与下三敏感栅中心的距离为0,各敏感段轴线所确定平面上,上五敏感栅与上三敏感栅呈叉指布置,下三敏感栅与下五敏感栅呈叉指布置;

上五敏感栅、上三敏感栅、中敏感栅、下三敏感栅和下五敏感栅的敏感段总电阻呈5:3:

8:3:5的比例关系,上五敏感栅、上三敏感栅、中敏感栅、下三敏感栅和下五敏感栅的敏感段在相同的应变下敏感段的总电阻变化值也呈5:3:8:3:5的比例关系。

2.如权利要求1所述的可测量双侧偏置敏感栅外侧横向偏导的横向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:每个敏感段的所有横截面形状尺寸一致,取每个敏感段的轴线中点位置并以该敏感段电阻值为名义质量构成所在敏感段的名义质点,所述上五敏感栅、上三敏感栅、中敏感栅、下三敏感栅和下五敏感栅的敏感段总长度呈5:3:8:3:5的比例关系。

3.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅外侧横向偏导的横向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述金属应变片还包括盖片,所述盖片覆盖于所述敏感栅和基底上。

4.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅外侧横向偏导的横向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述敏感栅为丝式、箔式、薄膜式或厚膜式敏感栅。

5.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅外侧横向偏导的横向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述基底为胶膜基底、玻璃纤维基底、石棉基底、金属基底或临时基底。

6.如权利要求1或2所述的可测量双侧偏置敏感栅外侧横向偏导的横向分布五敏感栅边叉指金属应变片,其特征在于:所述五个敏感栅上、中、下布置在基底上。