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专利号: 2015108852235
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,包括基底,其特征在于:所述金属应变片还包括五个敏感栅,每个敏感栅的两端分别连接一根引脚,所述基底上固定所述五个敏感栅;

每一敏感栅包括敏感段和过渡段,所述敏感段的两端为过渡段,所述敏感段呈细长条形,所述过渡段呈粗短形,所述敏感段的电阻远大于所述过渡段的电阻,相同应变状态下所述敏感段的电阻变化值远大于所述过渡段的电阻变化值,所述过渡段的电阻变化值接近于

0;

每个敏感段的所有横截面形心构成敏感段轴线,该敏感段轴线为一条直线段,所述五个敏感栅中各敏感段的轴线平行并且位于同一平面中,敏感段轴线所确定平面内,沿所述敏感段轴线方向即轴向,与轴向垂直的方向为横向;每个敏感段上存在其两侧电阻值相等的一个横截面,取该截面形心位置并以该敏感段电阻值为名义质量构成所在敏感段的名义质点,各个敏感段的名义质点共同形成的质心位置为敏感栅的中心;

各敏感栅中心之间在横向上无偏差,在轴向上有偏差;各敏感栅按敏感栅中心位置的顺序,沿轴向从左至右依次为疏甲敏感栅、疏乙敏感栅、中敏感栅、密乙敏感栅和密甲敏感栅。疏甲敏感栅中心与中敏感栅中心之间距离为ΔxA,中敏感栅中心与密甲敏感栅中心之间距离也为ΔxA;疏乙敏感栅中心与中敏感栅中心之间距离为ΔxB,中敏感栅中心与密乙敏感栅中心之间距离也为ΔxB,ΔxA>ΔxB;疏甲敏感栅中心与疏乙敏感栅中心的距离为Δx1,密乙敏感栅中心与密甲敏感栅中心之间距离为Δx1;Δx1=ΔxA-ΔxB;

各敏感段轴线所确定平面上,左边疏甲敏感栅与疏乙敏感栅之间呈叉指布置,右边密甲敏感栅和密乙敏感栅之间呈叉指布置;

疏甲敏感栅、疏乙敏感栅、中敏感栅、密乙敏感栅和密甲敏感栅的敏感段总电阻呈3:

3:8:5:5的比例关系,疏甲敏感栅、疏乙敏感栅、中敏感栅、密乙敏感栅和密甲敏感栅的敏感段在相同的应变下敏感段的总电阻变化值也呈3:3:8:5:5的比例关系。

2.如权利要求1所述的可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,其特征在于:每个敏感段的所有横截面形状尺寸一致,取每个敏感段的轴线中点位置并以该敏感段电阻值为名义质量构成所在敏感段的名义质点,所述疏甲敏感栅、疏乙敏感栅、中敏感栅、密乙敏感栅和密甲敏感栅的敏感段总长度呈3:3:8:5:5的比例关系。

3.如权利要求1或2所述的可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,其特征在于:所述密甲敏感栅和密乙敏感栅的引脚均位于应变片内侧。

4.如权利要求1或2所述的可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,其特征在于:相对中敏感栅,密甲敏感栅和密乙敏感栅的敏感段轴向长度可较短而横向分布可较密。

5.如权利要求1或2所述的可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,其特征在于:所述金属应变片还包括盖片,所述盖片覆盖于所述敏感栅和基底上。

6.如权利要求1或2所述的可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,其特征在于:所述敏感栅为丝式、箔式、薄膜式或厚膜式敏感栅。

7.如权利要求1或2所述的可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,其特征在于:所述基底为胶膜基底、玻璃纤维基底、石棉基底、金属基底或临时基底。

8.如权利要求1或2所述的可测量单侧双偏置敏感栅外侧轴向偏导的轴向分布五敏感栅边叉指金属应变,其特征在于:所述五个敏感栅左、中、右布置在基底上。