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专利号: 2015110264655
申请人: 淮阴师范学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于图像的植物叶片面积测量方法,其特征在于,采用叶片背光拍摄及图像辅助仿射校正装置进行图像采集,叶片背光拍摄及图像辅助仿射校正装置的上表面设有透视校正框及a、b、c、d、e、f、g、h八个红色矩形,每个红色矩形的面积已知,分别记为Sa、Sb、Sc、Sd、Se、Sf、Sg、Sh,透视校正框的四个顶点分别为A、B、C、D,装置内底部安装有面光源,该测量方法具体包括如下步骤:S1、拍摄时叶片置于透视校正框内,不得遮盖红色矩形,叶片上面加盖一块透明盖板,以使叶片平整,在叶片上方用数码相机拍照,应将透视校正框一并拍在内;

S2、利用PhotoShop的透视裁剪功能,根据相片中透视校正框的A、B、C、D四个顶点对相片进行透视裁剪,实现相片的仿射校正,以使得相片中任意两像素所代表的面积相同;

S3、以红色矩形a为标准,用PhotoShop提取红色矩形a的像素个数记为Na,单个像素所代表的面积为Spixel,则S4、检验仿射校正效果:

S41、用PhotoShop分别提取红色矩形b、c、d、e、f、g、h的像素个数,分别记为Nb、Nc、Nd、Ne、Nf、Ng、Nh;

S42、将Nb、Nc、Nd、Ne、Nf、Ng、Nh分别与Spixei相乘可得图像中红色矩形b、c、d、e、f、g、h的面积,分别记为Sb_photo、Sc_photo、Sd_photo、Se_photo、Sf_photo、Sg_photo、Sh_photo;

S43、计算Sb_photo与Sb的变异系数、Sc_photo与Sc的变异系数、Sd_photo与Sd的变异系数、Se_photo与Se的变异系数、Sf_photo与Sf的变异系数、Sg_photo与Sg的变异系数、Sh_photo与Sh的变异系数,分别记为CVb、CVc、CVd、CVe、CVf、CVg、CVh;

S44、计算CVb、CVc、CVd、CVe、CVf、CVg、CVh的变异系数,记为CVtotal,若CVtotal≤0.02表示仿射校正效果较好,可进行步骤S5的操作,否则转步骤S2重新做透视裁剪;

S5、设叶片面积为Sleaf,利用PhotoShop提取图像中叶片的总像素数,记为Nleaf,通过以下公式计算叶片面积:Sleaf=Nleaf×Spixel。