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专利号: 2016100280923
申请人: 常州大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种利用分子印迹过氧化聚吡咯/纳米金修饰电极电化学识别半胱氨酸对映体的方法,其特征在于:步骤如下:a、制备纳米金修饰电极:配制包括0.05~0.2mM氯金酸、0.05~0.2M氯化钾的电解质溶液,采用恒电位还原氯金酸的方法,从而得到纳米金修饰电极;

b、制备分子印迹过氧化聚吡咯/纳米金修饰电极:将步骤a制得的纳米金修饰电极放入预先配制好的包括1~3mM L-半胱氨酸、0.05~0.2M吡咯、0.05~0.2M氯化钾的混合溶液中

5~20min,然后在–0.6~0.8V的电位区间内采用循环伏安法聚合单体吡咯,聚合结束之后,在磷酸盐缓冲溶液中,采用循环伏安一步法进行脱掺杂,得到分子印迹过氧化聚吡咯/纳米金修饰电极;

c、电化学识别半胱氨酸对映体:将步骤b中制得的分子印迹过氧化聚吡咯/纳米金修饰电极置于含有0.5~2mM L-/D-半胱氨酸的磷酸盐缓冲溶液中富集一段时间之后,取出该电极插入到磷酸盐缓冲溶液中,采用循环伏安法对结合了L-/D-半胱氨酸的修饰电极进行电化学检测。

2.根据权利要求1所述一种利用分子印迹过氧化聚吡咯/纳米金修饰电极电化学识别半胱氨酸对映体的方法,其特征是:所述步骤a中氯金酸浓度为0.12mM,氯化钾浓度为0.1M,恒电位为–0.2V,恒电位还原氯金酸的时间为400s。

3.根据权利要求1所述一种利用分子印迹过氧化聚吡咯/纳米金修饰电极电化学识别半胱氨酸对映体的方法,其特征是:所述步骤b中L-半胱氨酸浓度为2mM,吡咯的浓度为

0.1M,氯化钾浓度为0.1M,放置时间为10min,循环伏安脱掺杂的磷酸盐缓冲溶液pH=7.0,浓度为0.1M,电位区间为0~1.6V,扫速为0.1Vs-1。

4.根据权利要求1所述一种利用分子印迹过氧化聚吡咯/纳米金修饰电极电化学识别半胱氨酸对映体的方法,其特征是:所述步骤c中L-/D-半胱氨酸浓度为1mM,磷酸盐缓冲溶液pH=4.5,浓度为0.1M。