1.用于磁致冷却对比的永磁体试验装置，其特征在于，包括夹持器、环形永磁体、待测试样、热电偶传感器、工作台；所述待测试样为DT4C纯铁；所述工作台设有上下导通的套孔，所述环形永磁体可拆卸地装接在所述套孔的外侧，并使该套孔的内侧形成磁场；所述待测试样可拆卸地装接于所述夹持器，通过将所述夹持器配合于所述套孔，可将所述待测试样置入套孔内的磁场中；所述热电偶传感器装接于所述待测试样的表面；

还包括与所述环形永磁体形状相同的环形金属件，所述环形金属件可拆卸地装接在所述套孔的外侧；

还包括环形固定件，该环形固定件设有可与所述套孔相导通的连通孔；所述环形永磁体卡装于所述环形固定件外侧后，装接在所述套孔的外侧；所述环形金属件卡装于所述环形固定件外侧后，装接在所述套孔的外侧。

2.根据权利要求1所述的用于磁致冷却对比的永磁体试验装置，其特征在于：所述待测试样的表面设有供感温探头安装的凹槽。

3.根据权利要求1所述的用于磁致冷却对比的永磁体试验装置，其特征在于：所述环形固定件和夹持器为抗磁性材料。

4.根据权利要求1所述的用于磁致冷却对比的永磁体试验装置，其特征在于：所述待测试样设有螺纹连接部，所述待测试样通过该螺纹连接部锁接于所述夹持器。

5.一种磁致冷却对比的测量方法，使用权利要求1至4中任一项所述的用于磁致冷却对比的永磁体试验装置，其特征在于，包括以下步骤：(1)将所述环形永磁体装接在所述套孔的外侧；

(2)将待测试样加热至预设温度T并保温，保温时间为t1，之后将待测试样装接于所述夹持器，并伸入所述套孔；

(3)将所述热电偶传感器装接于所述待测试样的表面，并在测量时间t2内测量待测试样的温度变化情况；

(4)将环形永磁体取下，将环形金属件装接在所述套孔的外侧，重复步骤(2)、(3)。

6.根据权利要求5所述的一种磁致冷却对比的测量方法，其特征在于：预设温度T不低于300℃。

7.根据权利要求5所述的一种磁致冷却对比的测量方法，其特征在于：保温时间t1不低于10min。