1.一种可用于辐射场下发射率测试的装置，其特征在于，该装置包括辐射场系统、温度控制系统和发射率测试系统；所述辐射场系统包括辐射源(9)、样品照射台(5)、照射台轨道(1)，所述温度控制系统包括绝热箱(10)、绝热样品套(6)、绝热操作手套(11)、温度控制装置(12)、样品温度测试装置(8)，所述发射率测试系统包括发射率探测器(4)、发射率读数器(14)、发射率校准台(2)、标准体(3)；

所述绝热箱(10)内部设有辐射源(9)、样品照射台(5)、照射台轨道(1)、绝热样品套(6)、发射率探测器(4)、发射率校准台(2)和标准体(3)，样品照射台(5)位于辐射源(9)下方，样品照射台(5)两侧有可上下移动的轨道(1)，绝热样品套(6)位于样品照射台(5)上；所述绝热箱(10)外部设有发射率读数器(14)，发射率读数器(14)和发射率探测器(4)连接；所述绝热箱(10)上设有温度控制装置(12)、样品温度测试装置(8)和绝热操作手套(11)。