1.一种可用于辐射场下发射率测试的装置，其特征在于，该装置包括辐射场系统、温度控制系统和发射率测试系统；所述辐射场系统包括辐射源[9]、样品照射台[5]、照射台轨道[1]，所述温度控制系统包括绝热箱[10]、绝热样品套[6]、绝热操作手套[11]、温度控制装置[12]、样品温度测试装置[8]，所述发射率测试系统包括发射率探测器[4]、发射率读数器[14]、发射率校准台[2]、标准体[3]；

所述绝热箱[10]内部设有辐射源[9]、样品照射台[5]、照射台轨道[1]、绝热样品套[6]、发射率探测器[4]、发射率校准台[2]和标准体[3]，样品照射台[5]位于辐射源[9]下方，样品照射台[5]两侧有可上下移动的轨道[1]，绝热样品套[6]位于样品照射台[5]上；所述绝热箱[10]外部设有发射率读数器[14]，发射率读数器[14]和发射率探测器[4]连接；所述绝热箱[10]上设有温度控制装置[12]、样品温度测试装置[8]和绝热操作手套[11]。