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专利号: 2016104733602
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-28
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种内圆锥角激光干涉测量装置,其特征在于,激光器(1)与分光镜(2)同光轴排列,分光镜(2)与光轴夹角为45°;显微镜CCD(3)位于分光镜(2)的反射光轴上,显微镜CCD(3)接计算机(4)。

2.根据权利要求1所述的内圆锥角激光干涉测量装置,其特征在于,激光器(1)输出波长λ为532nm。

3.根据权利要求1所述的内圆锥角激光干涉测量装置,其特征在于,分光镜(2)的入射反射镜面镀有激光器(1)输出波长λ的透过率为50%的膜系,分光镜(2)的透射镜面镀有激光器(1)输出波长λ的透过率大于99.5%的膜系。

4.根据权利要求1所述的内圆锥角激光干涉测量装置,其特征在于,分光镜(2)的反射光轴与显微镜CCD(3)感光面(s)的夹角θ设定为76.98°。

5.根据权利要求1所述的内圆锥角激光干涉测量装置,其特征在于,显微镜CCD(3)的技术参数包括:1000万像素、5000倍放大率、1/2.3"尺寸、有效像素3664×2748(10M)、像元尺寸1.67μm×1.67μm。

6.一种内圆锥角激光干涉测量方法,其特征在于,激光器(1)发出的一束激光被分光镜(2)分光为两束,透射分光镜(2)沿原方向传播的一束为测量光(m),被分光镜(2)反射沿与原方向垂直的方向传播的一束为参考光(r),测量光(m)的光轴和参考光(r)的光轴相交于激光器(1)发出的激光在分光镜(2)上的入射点,由相交的测量光(m)的光轴和参考光(r)的光轴确定的平面与待测内圆锥器件(5)的圆锥面的任意一个子午面重合,测量光(m)被圆锥面两次反射后与参考光(r)交汇,沿参考光(r)光轴将显微镜CCD(3)感光面(s)的位置调整到测量光(m)与参考光(r)的交汇处,显微镜CCD(3)将测量光(m)与参考光(r)交汇后产生的干涉条纹图像(i)发送给计算机(4),由计算机(4)分析得到干涉条纹间距(d),再根据公式得出待测内圆锥器件(5)的圆锥面的内圆锥角(β),式中:λ为激光器(1)发出的激光的波长,θ为参考光(r)与显微镜CCD(3)感光面(s)的夹角。

7.根据权利要求6所述的内圆锥角激光干涉测量方法,其特征在于,设定参考光(r)与显微镜CCD(3)的感光面(s)的夹角(θ)为76.98°,内圆锥角(β)的最大测量范围为90~135°。