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专利号: 2016104733655
申请人: 西安电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种利用双偏振调制器实现瞬时微波频率测量的装置:包括光源、信号源、双偏振调制器、单模光纤、起偏器、耦合器、偏振控制器、起偏器以及光电探测器,其特征在于:双偏振调制器设置在光源的出射光路上,调制器的输出端经一段光纤和耦合器相连,耦合器的一个输出端和光电探测器1相连,另一个输出端依次连接一个偏振控制器和起偏器,起偏器的输出端接连光电探测器2;

所述的双偏振调制器由MZM1、MZM2以及尾部的偏振分束器集成,在双偏振调制器中,光源发出的光信号被分为两路,分别被输入到MZM1和MZM2中,信号源产生的微波信号输入到MZM1的一个射频输入端口,其它三个射频端口空载,MZM1和MZM2均偏置在最大传输点,MZM1输出被待测射频信号相位调制的光信号信号和光载波,MZM2只输出光载波,经过尾部的偏振分束器,实现两路信号的偏振态正交化,在双偏振调制器输出端得到偏振复用信号;

所述的双偏振调制器经一段单模光纤后与耦合器相连,耦合器将信号平均分为两路,一路直接接入光电探测器1,一路通过偏振控制器和起偏器将偏振复用信号转化为线偏振信号后接入光电探测器2,得到两路不同的功率响应,两路功率进行相比得到功率比较函数,根据待测频率和功率比值一一对应的关系,计算出待测频率。

2.根据权利要求1所述的光子学瞬时微波频率测量装置,其特征在于:两路得到的功率响应曲线近似互补,功率比较函数的斜率大,提高了测量精度。

3.根据权利要求1所述的光子学瞬时微波频率测量装置,其特征在于:改变信号源产生待测微波信号的功率,测量结果没有明显变化。

4.根据权利要求1所述的光子学瞬时微波频率测量装置,其特征在于:通过调节偏振控制器可以改变频率测量范围。