1.一种电离层VTEC值异常检测方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)确定观测序列，数量为n，选择观测序列中初始的VTEC观测值，表示为：VTECi，1≤i≤n，i表示观测序列中的第i个值；

(2)逐个对VTEC观测值进行递推，其中观测序列中VTECi的递推值表示为VTEC(i)，递推方法如下所示：PE(i)＝A(i-1)×P(i-1)×A(i-1)′+Q(i-1)    (1)从第2个观测值开始递推，即i≥2；

式(1)中，A(i-1)表示第i-1个观测值的状态转移矩阵，当i＝2时，A(i-1)＝A(1)＝1；A(i-1)′表示A(i-1)的转置矩阵；Q(i-1)表示第i-1个观测值的系统噪声矩阵，当i＝2时，Q(i-1)＝Q(1)＝1；PE(i)表示第i个观测值的预报误差矩阵，当i＝1时，PE(1)＝1；P(i-1)表示第i-1个观测值的均方误差矩阵，当i＝2时，P(i-1)＝P(1)＝1；

-1

H(i)＝PE(i)×C(i-1)′×(C(i-1)×PE(i)×C(i-1)′+R(i-1))   (2)式(2)中，H(i)表示第i个观测值的增益矩阵，当i＝2时，H(2)＝PE(2)×C(1)＇×(C(1)×PE(2)×C(1)′+R(1))-1；C(i-1)表示第i-1个观测值的量测矩阵，当i＝2时，C(i-1)＝C(1)＝1；C(i-1)′表示C(i-1)的转置矩阵；R(i-1)表示第i-1个观测值的测量噪声矩阵，当i＝2时，R(i-1)＝R(1)＝1；

VTEC(i)＝A(i)×VTEC(i-1)+H(i)×(VTECi-C(i)*A(i)*VTEC(i-1))    (3)式(3)中，VTEC(i)表示观测序列中VTECi的递推值；

I＝eye(size(H(i))     (4)

式(4)中，eye表示设定单一矩阵，size(H(i))表示求矩阵H(i)的维数；

P(i)＝(I-H(i)×C(i))×PE(i)      (5)(3)计算VTECi的递推值VTEC(i)和观测值VTECi的差值，用Δi表示，即：Δi＝VTEC(i)-VTECi    (6)

Δi即为VTEC异常检测统计量；

σ表示VTEC(i)和VTECi的均方差，通过式(7)进行计算；

n表示VTEC观测序列的数据量，将Δi作为统计量，进行电离层VTEC异常统计；取 加上k倍的σ为异常检测范围的上边界，减去k倍的σ为下边界，其中k为检测系数；确定了VTEC异常检测上下边界就可以最终确定VTEC异常值，其中，VTEC观测值大于上边界则称为上边界异常；同样，观测值小于下边界则称为下边界异常，上下边界的计算如式(8)、(9)所示：公式(8)、(9)中，vtecs表示VTEC上边界，vtecx表示VTEC下边界，表示对Δi取平均值；

(4)利用统计量Δi，依据VTEC上边界和下边界进行VTECi异常检测与统计分析。