1.一种投影测量治具，其特征在于，包括：

透明基板，所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔；

固定板，与所述透明基板的侧边抵持，用于固定所述透明基板；

多个定位销，分别插接于所述多个通孔，用于将所述待测量工件固定于所述透明基板。

2.根据权利要求1所述的投影测量治具，其特征在于，所述定位销包括第一定位销和第二定位销，所述第一定位销与所述待测量工件的底面抵持接触，用于支撑所述待测量工件，所述第二定位销与所述待测量工件的侧壁抵持接触。

3.根据权利要求2所述的投影测量治具，其特征在于，其还包括设置在所述透明基板顶面的定位块，所述定位块沿高度方向开设有适配于所述第二定位销的长孔，所述第二定位销插接于所述长孔内并伸入所述通孔，所述定位块的侧壁与所述待测量工件的侧壁抵持。

4.根据权利要求3所述的投影测量治具，其特征在于，所述定位块包括第一定位块和第二定位块，所述第一定位块、第二定位块皆呈L型，所述第一定位块、第二定位块的内侧壁分别与所述待测量工件的两个边角的邻接的两个侧壁抵持。

5.根据权利要求4所述的投影测量治具，其特征在于，所述第一定位块、第二定位块与所述待测量工件相对的两个侧壁分别凸出设置有定位凸台，所述定位凸台与所述待测量工件的侧壁抵持。

6.根据权利要求2所述的投影测量治具，其特征在于，所述通孔包括呈矩阵布设的多个第一通孔、并排布设于靠近所述透明基板侧边及两排所述第一通孔之间的多个第二通孔，所述第一定位销插设于所述第一通孔，所述第二定位销插设于所述第二通孔。

7.根据权利要求2所述的投影测量治具，其特征在于，所述第一定位销包括同轴设置的直杆部和头部，所述直杆部和头部皆呈圆柱状，所述直杆部的直径小于所述头部的直径。

8.根据权利要求1所述的投影测量治具，其特征在于，所述透明基板呈矩形，所述固定板包括分别抵靠在所述透明基板相邻的两个侧边的第一固定板、第二固定板，所述第二固定板的一端与所述第一固定板抵持。

9.一种利用如权利要求1～8任一所述的投影测量治具的测量方法，其特征在于，步骤包括：提供待测量工件，所述待测量工件的底面为平面；

将所述第二定位销穿过所述第一定位块的长孔及对应的第一通孔，使所述第一定位块固定于所述透明基板；

将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面并使所述待测量工件的一个边角的邻接的两个侧壁与所述第一定位块的两个定位凸台抵持；

将所述第二定位块放置于所述透明基板的顶面并使所述第二定位块的两个定位凸台于所述待测量工件的另一个边角的邻接的两个侧壁抵持，将所述第二定位销穿过所述第二定位块的长孔及对应的第一通孔，使所述待测量工件固定于所述透明基板；

开启投影仪，对所述透明基板上的待测量工件进行测量，获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。

10.一种利用如权利要求1～8任一所述的投影测量治具的测量方法，其特征在于，步骤包括：提供待测量工件，所述待测量工件的正、反面分别具有凹凸部；

根据所述待测量工件反面凹凸部的分布，在所述透明基板上插设多个所述第一定位销；

将多个所述第二定位销分别插设于多个所述第二通孔；

将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面，所述第一定位销与所述待测量工件反面未设置有凹凸部的部位抵持，同时使所述待测量工件的两个侧壁分别与两排所述第二定位销抵靠；

开启投影仪，对所述透明基板上的待测量工件进行测量，获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。