1.一种壳聚糖薄膜的制备方法，其特征在于，按照以下步骤依次进行：

(1)将0.5～1.0g的壳聚糖加入到1000ml去离子水中，而后常温下磁力搅拌1～2h，获得呈现正电荷特性的壳聚糖水溶液A；

(2)将0.1～4.0g的改性剂和0.1～4.0g的碳纳米管依次加入1000ml去离子水中，继而常温下磁力搅拌8～12h，获得呈现负电荷特性的改性碳纳米管水溶液B；

(3)将所述改性碳纳米管水溶液B逐渐加入处于搅拌状态下的壳聚糖水溶液A，加入完毕后继续磁力搅拌5～20min，得到混合液C；

(4)将所述混合液C涂敷成薄膜状后置于40～80℃环境中干燥1.0～2.0h，干燥完毕后取出，得到壳聚糖薄膜。

所述壳聚糖薄膜的抗拉强度为50～100MPa，电导率为2.1×10-5～9.3×10-3S/cm。

2.如权利要求1所述的一种壳聚糖薄膜的制备方法，其特征在于，所述步骤(2)中改性剂为二苯乙烯联本二磺酸钠或聚苯乙烯磺酸钠。

3.如权利要求1所述的一种壳聚糖薄膜的制备方法，其特征在于，所述步骤(2)中碳纳米管的直径为20～30nm，长度为10～30μm。

4.如权利要求1所述的一种壳聚糖薄膜的制备方法，其特征在于，所述步骤(1)、步骤(2)、步骤(3)中的磁力搅拌是指转速为400～600r/min的搅拌。

5.如权利要求4所述的一种壳聚糖薄膜的制备方法，其特征在于，所述步骤(1)、步骤(2)、步骤(3)中的磁力搅拌是指转速为500r/min。

6.如权利要求1所述的一种壳聚糖薄膜的制备方法，其特征在于，所述步骤(1)中的负电荷特性及所述步骤(2)中的正电荷特性由zeta电位/激光粒度分布仪进行测试。

7.一种壳聚糖薄膜，由权利要求1～5任一所述的制备方法制备而成，其特征在于，所述壳聚糖通过絮凝集合形成壳聚糖薄膜基体，所述碳纳米管均匀分布在壳聚糖基体中形成壳聚糖薄膜。