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专利号: 2017100654485
申请人: 西安电子科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.基于双平衡马赫增德尔调制器(DPMZM)测量多普勒频移(DFS)的装置及方法,包括激光二极管(LD)、DPMZM、掺铒光纤放大器(EDFA)、密集型波分复用器(DWDM)、光电探测器(PD)、电谱仪、示波器,其特征在于:电光调制器只采用一个DPMZM,回波信号和发送信号分别驱动调制器的上下臂,产生携带回波信号和本振信号的抑制载波双边带信号,DWDM将调制器输出的光信号的上下边带分别滤出并送入上下路的PD进行拍频。拍频得到的电信号通过电谱仪和示波器测出DFS的大小和正负。

所述DPMZM是由Y型分光器、两个马赫增德尔调制器(MZMa和MZMb)并联集成在一个主调制器(MZMc)上,射频口采用推挽模式加载射频信号。

所述DWDM内部是中心频率相隔几十吉赫兹的平坦光带通滤波器组。

2.根据权利要求1所述基于DPMZM测量多普勒频移(DFS)的装置及方法,其特征在于:DPMZM的上下臂工作在最小点产生抑制载波正负一阶边带,DPMZM的主调制引入相位差用于DFS正负的判定。

3.根据权利要求1所述基于DPMZM测量多普勒频移(DFS)的装置及方法,其特征在于:充分利用了已调信号上下边带的幅度和相位信息,即PD之后的电信号送入电谱仪测量DFS的大小,将上下两路电信号送入示波器比较两路信号的相位差判定DFS的正负。

4.根据权利要求1所述基于DPMZM测量多普勒频移(DFS)的装置及方法,其特征在于:DWDM通带平坦,该测量方法对载波变化不敏感,可以在很大范围内进行调节。