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专利号: 2017102105143
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 光学
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种双波长激光能量衰减方法,其特征在于,在激光损伤测试中实现双波长激光能量在不变化衰减片组合时具有相同衰减率,具体过程包括:步骤1、构建用于双波长激光能量衰减装置:构建的用于双波长激光能量衰减装置,包括有底座和安装于底座上的衰减机构,衰减机构通过电机带动衰减盘系统旋转,衰减片周向均匀安装于衰减盘上,入射光为激光,出射光为衰减后的激光输出;衰减片为表面沉积有用于修正不同波长透射率光学薄膜的衰减片;在用于双波长激光能量衰减装置的输入端,设有两个激光器,第一激光器的激光波长为532nm,第二激光器激光波长为1064nm,当上述双波长激光通过同一用于双波长激光能量衰减装置时,在测试过程中无需改变衰减片组合,即获得相同衰减率的激光输出;

步骤2、以用于双波长激光能量衰减装置为主形成激光损伤测试系统,其中,第一激光器和第二激光器各为一支路分别作为两个激光输入源置于输入端,其中第一激光器的出射测试激光为532nm,接有转向光学单元,之后以激光出射方向依次串接有:准直、扩束单元,用于双波长激光能量衰减装置,聚焦单元,被测样片;第二激光器的出射测试激光为

1064nm,之后沿激光出射方向依次进入与第一激光器同一准直、扩束单元,用于双波长激光能量衰减装置,聚焦单元,被测样片的光路中;每一支路的所有光学元件、构件分别同光轴,形成激光损伤测试系统;

步骤3、将被测样片安装在测试系统的光路末端;

步骤4、第一激光器关闭,第二激光器发射1064nm激光;

步骤5、第二激光器的1064nm激光束通过准直和扩束单元后的激光进入用于双波长激光能量衰减装置;

步骤6、当第二激光器1064nm激光束通过用于双波长激光能量衰减装置中的沉积有沉积MgF2薄膜的衰减片后,1064nm激光实现了N%的能量衰减;

步骤7、衰减后的1064nm激光束经聚焦单元会聚到被测样片表面,实现对被测样片的

1064nm激光损伤测试;

步骤8、第二激光器关闭,打开第一激光器,激光器发出532nm激光;

步骤9、第一激光器发出的532nm激光经转向光学单元,进入准直、扩束单元;

步骤10、第一激光器的532nm激光经准直和扩束后的激光通过用于双波长激光能量衰减装置;

步骤11、当532nm激光束通过用于双波长激光能量衰减装置中沉积有MgF2薄膜的衰减片后,不调整衰减方案,实现了N%的能量衰减;得到了与1064nm激光束相同的激光能量衰减率;

步骤12、衰减后激光经聚焦单元会聚到被测样片表面,实现对被测样片532nm的激光损伤测试。

2.根据权利要求1所述的双波长激光能量衰减方法,其特征在于,首先关闭第二激光器,让第一激光器先发射532nm激光,即先进行532nm激光的测试,后进行1064nm激光的测试。

3.根据权利要求1或2所述的双波长激光能量衰减方法,其特征在于,第一激光器和第二激光器,其中有一个需要经过转向光学单元,另一个则不需经过转向光学单元,即当第二激光器发出的1064nm激光是经转向光学单元,进入准直、扩束单元时;第一激光器发出的

532nm激光直接入射准直、扩束单元。