1.一种二分区间的数据压缩方法，其特征在于，将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该区间，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集，具体步骤为：

步骤1：统计原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……，Yn，其中，Yn表示为第n个测试向量的游程长度，n为正整数，将该测试向量按0类型游程统计游程长度，直到无关位结束；

步骤2：转化成小数，默认小数的整数部分为0，步骤1所统计的游程长度依次组成小数部分，转化的小数为0.Y1Y2……Yn，0.Y1Y2……Yn属于区间(0，1)；

步骤3：初始化区间和原始编码，记t0＝0，t1＝1，t0是代表了初始化区间转化后的小数，t1代表了原始编码转化后的小数；原始编码为空；

步骤4：二分区间，令 比较t′与t大小并编码，t是代表了转化后的小数，规则为：若t≤t′，编码增加1位数据0，令t1＝t′；若t＞t′，t′代表了t0、t1之和的一半，编码增加1位数据1，令t0＝t′，重复执行该步骤直到t＝t′。

2.如权利要求1所述的一种二分区间的数据压缩方法，其特征在于，所述步骤1中，若无关位与前一游程可以组成同一游程，舍弃最后一游程长度，只记前若干游程长度；否则记前所有游程长度。

3.一种集成电路测试数据的存储方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤10：根据待测试集成电路的电路结构生成包含若干故障的故障列表；

步骤20：选择任一故障，运行自动测试向量生成工具以此生成该故障的测试向量，同时将该故障点从故障列表中删除，最终形成级联后原始测试数据即测试向量序列S；

步骤30：将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该区间，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集；

所述步骤30具体包括以下步骤：

步骤301：游程长度统计，统计级联后原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……，Yn，其中，Yn表示为第n个测试向量的游程长度，n为正整数，将该测试向量按0类型游程统计游程长度，直到无关位结束；

步骤302：转化成小数，默认小数的整数部分为0，步骤301所统计的游程长度依次组成小数部分，转化的小数为0.Y1Y2……Yn，0.Y1Y2……Yn属于区间(0，1)；

步骤303：初始化区间和原始编码，记t0＝0，t1＝1，t0是代表了初始化区间转化后的小数，t1代表了原始编码转化后的小数；原始编码为空；

步骤304：二分区间，令 比较t′与t大小并编码，t是代表了转化后的小数，规则为：若t≤t′，编码增加1位数据0，令t1＝t′；若t＞t′，编码增加1位数据1，令t0＝t′，t′代表了t0、t1之和的一半，重复该步骤直到t＝t′。

4.如权利要求3所述的集成电路测试数据的存储方法，其特征在于，步骤302中，若无关位与前一游程可以组成同一游程，舍弃最后一游程长度，只记前若干游程长度；否则记前所有游程长度。