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专利号: 2017103123308
申请人: 燕山大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种在透射电子显微镜下获取环形暗场图像的方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)选区域:将样品放入到透射电子显微镜下,选择需要获取环形暗场图像的区域,调节好放大倍数,并采集此区域明场像;

(2)采集多晶衍射环:使用选区光阑采集样品的多晶衍射环,选定需要获取环形暗场图像的衍射环;

(3)采集暗场图像:整个暗场图像的采集过程中须保持放大倍数、物镜电流的参数不变,首先使用物镜光阑在步骤(2)选定的衍射环中选取一部分,采集暗场图像;然后使用物镜光阑沿步骤(2)选定的衍射环向下选取一部分衍射环,采集暗场图像;继续沿着衍射环往下选取部分衍射环,采集暗场图像,直至物镜光阑所选取的总长度大于步骤(2)选定衍射环的一半,暗场图像采集完成;

(4)组合图像:使用图像软件叠加步骤(3)所采集的所有暗场图片,生成步骤(2)选定的衍射环的环形暗场像。