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专利号: 2017103151187
申请人: 常州大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-03-22
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.制备树杈状分子印迹二氧化硅修饰氧化铟锡电极,其特征在于:步骤如下:

a、制备包埋有非离子表面活性剂C20聚氧乙烯醚和L-色氨酸的二氧化硅修饰氧化铟锡电极:将4~6mM C20聚氧乙烯醚和1~3mM L-色氨酸溶于乙醇和水(V乙醇:V水=2:1)的混合溶液中,且将氧化铟锡电极浸入上述溶液中静置30min;然后移取40~60μL氨丙基三乙氧基硅烷、150~250μL四乙氧基硅烷和1mL包含1~6M HCl的溶液依次滴加进上述溶液中,反应3h之后,慢慢取出氧化铟锡电极,自然晾干,备用;

b、制备树杈状分子印迹二氧化硅修饰氧化铟锡电极:将包埋有C20聚氧乙烯醚和L-色氨酸的二氧化硅修饰氧化铟锡电极置于马弗炉中,300~600℃下煅烧2h可得树杈状分子印迹二氧化硅修饰氧化铟锡电极。

2.根据权利要求1所述制备树杈状分子印迹二氧化硅修饰氧化铟锡电极,其特征是:所述步骤a中C20聚氧乙烯醚的浓度为5mM,L-色氨酸的浓度为2mM,氨丙基三乙氧基硅烷的体积为50μL,四乙氧基硅烷的体积为200μL,HCl的浓度为3mM。

3.根据权利要求1所述制备树杈状分子印迹二氧化硅修饰氧化铟锡电极,其特征是:所述步骤b中煅烧温度为500℃。