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专利号: 2017103151238
申请人: 常州大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-03-22
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.制备分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极,其特征在于:步骤如下:

a、制备聚对氨基苯磺酸修饰电极:采用直径为3mm的玻碳电极为工作电极,铂片为辅助电极,饱和甘汞电极为参比电极的三电极体系;称取10~20mg对氨基苯磺酸溶于20mL 

0.1MpH为7.0的磷酸盐缓冲溶液中,在-1.5~2.5V的电位窗口内,以0.1V/s的扫速采用循环伏安法制备得到聚对氨基苯磺酸修饰电极;

b、制备分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极:将聚对氨基苯磺酸修饰电极浸入包括2mM L-色氨酸和0.1M吡咯的0.1M pH为2.5~4.5的磷酸盐缓冲溶液中静置10~

30min,然后在-0.6~0.8V的电化学窗口范围内,以0.1V/s的扫速进行循环伏安扫描10圈,得到掺杂有L-色氨酸的聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极;再将该修饰电极浸入0.1M H2SO4溶液中,施加0.3~0.5V的电位脱掺杂1000s得到分子印迹聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极;将分子印迹聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极置于0.1M NaOH溶液中,在0.4~1.2V的电化学窗口内进行循环伏安扫描,直到出现稳定的循环伏安曲线,得到最终的修饰电极,即分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极。

2.根据权利要求1所述制备分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极,其特征是:所述步骤a中对氨基苯磺酸的质量为15mg。

3.根据权利要求1所述制备分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极,其特征是:所述步骤b中磷酸盐缓冲液的pH值为4,静置时间为20min,脱掺杂的恒电位为0.4V。